Celem prac badawczych przedstawionych w tej pracy jest wyznaczenie analitycznych zależności opisujących wpływ temperatury oraz napięcia zasilającego na czas propagacji cyfrowych układów logicznych oraz określenie relacji pomiędzy tymi zależnościami. W artykule zaprezentowano pomiary zmian czasu propagacji wybranych bramek logicznych w funkcji temperatury i w funkcji napięcia zasilającego. Przedstawiono wyniki pomiarów zmian czasu propagacji badanych układów w funkcji temperatury przy regulacji napięcia zasilającego wg wyznaczonych równań kompensacyjnych.
EN
The main purpose of the research work presented in this paper is to determine an analytical dependence describing the influence of temperature and supply voltage on the propagation time of gates, and to define the relations between those dependences. The article presents the measurements of changes in propagation times of logical gates in the function of temperature as well as in the function of supply voltage. The results of measurements of propagation time changes of tested integrated circuits in a function of temperature during adjustment the supply voltage by determined compensation equations are presented.
We present a method and results of measurements of FPGA (Field Programmable Gate Array) selected timing parameters crucial in many timing sensitive applications such as precise time and frequency metrology. Two main parameters, i.e. the delay and its jitter, were evaluated for look-up-tables (delay 740 ps/jitter 1.33 ps), IO buffers (na/0.45 ps) and carry-chain multiplexers (28ps/0.153 ps) integrated in a programmable device Spartan-6 (Xilinx) which is one of most popular FPGA chips on the market now. Measurements were performed with the use of fast real-time sampling oscilloscope.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.