Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  profilometr
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Przyrządy do pomiaru konturu
100%
PL
Konturografy znajdują wiele zastosowań, choć mają swoje ograniczenia, takie jak mały zakres pomiarowy i pomiar wykonywany zwykle w jednej płaszczyźnie. Urządzenia te wymagają precyzyjnego doboru strategii pomiarowej, ze szczególnym uwzględnieniem wpływu samego obiektu pomiarowego na wynik.
PL
W artykule przedstawiono skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu nierównosci powierzchni. Zawiera ono profilometr, komputer, system akwizycji systemu pomiarowego oraz oprogramowanie umożliwiające analizę i pomiary profilu powierzchni. Oprogramowanie napisane w środowisku programowym Borland delphi pozwala na pracę w systemie MS Windows. Stanowisko jest rozbudowywane w celu analizy topografii powierzchni.
EN
In the paper computerized stand for a measurement and analysis of surface profile is described. This stand contains stylus instrument, microcomputer, system of acquire of measuring signal and software. Software for MS Windows was works out using Borland Delphi. Using this stand , three-dimensional imaging od surface roughness is possible.
|
|
tom nr 3
103-110
PL
W niniejszej pracy autorzy przedstawili topografię powierzchni panewek mikrołożysk ślizgowych z mikrorowkami zmierzonymi za pomocą mikroskopu sił atomowych (NT-206 produkowanego w MTM na Białorusi) i profilometru (T8000-R60 firmy Hommeltester). Wyniki pomiarów topografii powierzchniprzedstawiono w formie dwu- i trójwymiarowych wykresów oraz przekrojów badanej powierzchni. Topografię powierzchni wykonano dla panewek mikrołożysk ślizgowych stosowanych w 2,5" HDD Samsung HM160HI – 5400 obr/min, 3.5" HDD Seagate Barracuda 7200.10 ST380815AS – 7200 obr/min oraz wentylatorze komputerowym Kama Flow SP0825FDB12H. Rozpatrywane mikrołożyska eksploatowane były przez rok na nominalnych prędkościach obrotowych w dwóch trybach pracy. Pierwszy tryb pracy charakteryzował się pracą ciągłą (tj. 24 godziny). Drugi tryb pracy to tryb przerywany, czyli 15 minut urządzenie było włączone i 15 minut wyłączone. Dzięki wynikom uzyskanym za pomocą profilometru określono wielkość, kształt i rozmieszczenie mikrorowków. Wyniki otrzymane na mikroskopie sił atomowych posłużyły do oceny chropowatości powierzchni w skali mikro i manometrycznej oraz zużycia powierzchni ślizgowych.
EN
This paper presents the sleeve surface topography containing microgrooves measured by virtue of Atomic Force Microscopy NT-206 constructed in MTM Belarus, and a T8000-R60 Hommeltester profile measurement gauge. The topography was generated in 2D and 3D charts for the cross-sections of the considered surface sample. The topography was developed for slide micro-bearing sleeve applied in 2.5" HDD Samsung HM160HI – 5400rpm, 3.5" HDD Seagate Barracuda 7200.10 ST380815AS - 7200 RPM and in computer ventilator Kama Flow SP0825FDB12H. The micro-bearings were exploited for one year at nominal rotational speed for two cases. The first case included continuous operation of 24 hours per day. The second case included interrupted operation, e.g. 15 minutes on and 15 minutes off. By virtue of the results obtained using profile measurement gauge, we can record the quantities, shapes, and location of microgrooves. Moreover, the results obtained using AFM were helpful for roughness assessment and wear surface evaluation.
EN
The article presents the visual effects of solar and UV-VIS radiation with appropriate intensity and aging time on three types of cellulose foils with and without overprint. The print was made with biodegradable AquaBio and compostable GeckoFrontalEco inks. Photographs of the film surface were taken using a confocal and scanning microscope, and their profile was determined using a profilometer.
PL
W pracy zwrócono uwagę na duże znaczenie ilościowego opisu geometrycznych cech powierzchni warstw natryskiwanych plazmowo. Zaproponowano zastosowanie do tego celu nowego parametru - wymiaru fraktalnego. Do analizy fraktalnej wykorzystano dwie metody: metodę cięciwy i metodę 'box-counting'. Dowiedziono, że profile chropowatości warstw natryskiwanych plazmowo stanowią figury fraktalne o wartościach wymiarów fraktalnych w zakresie 1.026 - 1.075. Wartości wymiarów fraktalnych uzyskane metodą cięciwy korelują z parametrami opisującymi cechy wysokościowe profili, wyznaczonymi przy zastosowaniu profilometru. Warstwy nanoszone metodą naddźwiękową mają niższe wartości wymiarów fraktalnych w stosunku do warstw nanoszonych metodą klasyczną.
EN
The quantitative description of geometrical features of surfaces layers plasma sprayed has been attended. New fractal dimension parameter to quantify the surfaces has been proposed. Two methods of fractal analysis: 'chord' and 'box-counting' have been used. It was provided that surface layers of plasma spray roughness profiles are fractal figures with fractal dimensions in the range from 1.026 to 1.075. Values of the fractal dimension obtained by chord method was correlated to geometrical features determined by profilometer. Layers sprayed by supersonic method have lower fractal dimensions compared to layers sprayed by classical method.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.