Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: pomiary optyczne

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Optyczne pomiary zarysów powtarzalnych wykorzystaniem technik przetwarzania obrazu

100%

Storch B. , Wierucka I.

2007

tom Vol. 1, no. 2

59-62

W niniejszej pracy przedstawiono metodykę pomiaru gwintów oraz monitorowania jakości wymiarowo-kształtowej przedmiotu obrabianego w świetle odbitym i przechodzącym. Wielkości wyznaczone z cyfrowej analizy obrazu wykorzystywane są w ocenie dokładności wykonania, która opisywana jest za pomocą tolerancji. Możliwe jest wyznaczenie parametrów zarysu oraz istotnych parametrów gwintu z określoną dokładnością pomiarową. Zostały zastosowane metody pomiaru na bazie transformaty Fouriera oraz widmowej gęstości mocy, jak również własne opracowane algorytmy.

Currently, many methods are used to determine the functional parameters of the objects with repeatable contours (e.g. thread parameters). The author tested the thread parameters measured in the reflected and passing light through optimization of the light source parameters. To perform 2D optical measurement of the thread with use of a microscope and CCD camera, various measuring methods were developed. The tested surface points of the object are optically registered and their data are transmitted to a PC and relevant functional object parameters are calculated using specially designed algorithms of image processing. Various algorithms shown in the block scheme were applied for image evaluation. It is possible to determine the contour parameters as well as important thread parameters with specific measurement accuracy. The methods based on the Fourier Transform as well as on the Spectral Power Density were applied, but the authors developed also some own methods.

Zastosowanie koherencyjnej interferometrii korelacyjnej do pomiarów topografii powierzchni

75%

Kapłonek W. , Łukianowicz C.

2010

tom R. 86, nr 10

43-46

Do dokładnej oceny topografii powierzchni często stosuje się metody interferencyjne wykorzystujące światło białe. W referacie przedstawiono metodę opartą na analizie maksymalnej wartości stopnia koherencji czasowej dwóch interferujących fal. Analiza ta jest dokonywana jednocześnie w wielu punktach badanej powierzchni. Metoda ta ma wiele zalet, takich jak szeroki zakres pomiarowy, wysoka dokładność i krótki czas pomiaru. W artykule zaprezentowano wyniki pomiarów topografii różnorodnych powierzchni otrzymane za pomocą tej metody.

White light interferometry have been commonly used for evaluation of engineering surfaces for a long time. Coherence correlation interferometry is new method, which is developed in the last ten years. The paper describes the principles of coherence correlation interferometry application for engineering surfaces topography evaluation. It is based on an analysis of the maximum value of the temporal degree of coherence of two interfering waves. The analysis takes place simultaneously in all surface points. This method has a number of advantages. Large measurement range, high accuracy and short measurement times are among the key features. The results of topography evaluation of various engineering surfaces performed with this method have been presented in the paper. CCI 6000 coherence correlation interferometer by Taylor Hobson was used to carry out the measurements. Accomplished analyses and tests have demonstrated that interference methods allow for a quick assessment and examination of fine machined surfaces. The coherence correlation interferometry becomes particularly useful for this purpose. This technique is employed in the measuring system Talysurf CCI 6000 providing a range of diverse ways of surface topography analysis. The end-user of the system acquires a digital image of the surface’s irregularities heights as the result of the measurement. This image is used in further production of topographic maps, axonometric surface images, surface profile diagrams and calculations of the surface topography parameters.

Przydatnosc pomiarow optyczno-iglowych

44%

Wichlacz H. , Piotrowski E.

tom 56

nr 12

28-30