PL
 |
EN
Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  pomiary grubości
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Optoelektroniczne metody pomiaru grubości cienkich transparentnych warstw wytwarzanych w procesach próżniowych
100%
Bogdanowicz R. , Gnyba M. , Wroczyński P.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2004
|
tom Vol. 45, nr 2
25-31
PL
W artykule opisano problemy związane z określeniem grubości cienkich transparentnych warstw dielektrycznych, syntetyzowanych w procesach próżniowych. Przedstawiono stosowane metody pomiarowe, szczególny nacisk kładąc na techniki optoelektroniczne oparte na badaniu interferencji i zmiany stanu polaryzacji światła w wyniku oddziaływania z cienką warstwą oraz na analizie spektralnej.
EN
The paper describes problems that should be considered during the thickness investigation of thin, transparent, dielectric film, that are synthesized using vacuum systems. The most common used measurement methods are presented, but optoelectronic methods based on light interference on the sample spectral analysis and change of polarization of light illuminate the sample were the main topic.
2
Content available remote Uszkodzenie łącznika dwukołnierzowego przy separatorze przewoźnym
100%
Przybyłowicz J.
Wiadomości Naftowe i Gazownicze
|
2001
|
tom R. 4, Nr 1 (33)
20-22
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.