Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: ogniwa PV

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Koncepcja pojazdu napędzanego energią słoneczną

100%

Kasprzyk L. , Laskowski F.

tom No. 92

11--24

W pracy dokonano przeglądu samochodów zasilanych energią słoneczną. Opisano stosowane ogniwa fotowoltaiczne i akumulatory oraz omówiono ich najważniejsze parametry. Zaprezentowano zależności umożliwiające wyznaczenie energochłonności pojazdów samochodowych. Główną część pracy stanowi projekt układu zasilania samochodu napędzanego energią słoneczną. Przedstawiona została problematyka eksploatacji poszczególnych elementów układu napędowego oraz analiza podstawowych parametrów pojazdu. Praca stanowi opis części projektu budowy samochodu solarnego realizowanego przez studentów Politechniki Poznańskiej zrzeszonych w zespole "PUT Solar Dynamics".

The presented thesis provides an overview of solutions used in vehicles powered by solar energy. It describes types of used solar cells and rechargeable batteries and their major parameters. It presents depending describing the energy consumption of the vehicle. The main part of the thesis is the power system project of a vehicle powered by solar energy. It presents exploitation problems of various system components and the analyze of basic parameters reached by that car. This thesis is a part of building a solar car project, implemented by Poznan University of Technology students, affiliated to the team “PUT Solar Dynamics”.

Badania elipsometryczne cienkich warstw ZnO:Al stosowanych jako elektrody w fotowoltaice kosmicznej

63%

Dyndał K.

tom T. 74, nr 1

13--17

Elipsometria spektroskopowa jest techniką optyczną słu-żącą do badania cienkich warstw. Metoda ta ma nienisz-czący charakter i wysoką dokładność, co sprawia, że jest podstawowym narzędziem badań w różnych dziedzinach w tym w fotowoltaice. W pracy elipsometria spektrosko-powa została wykorzystana do badania cienkich warstw tlenku cynku z domieszką glinu (ZnO:Al), otrzymanych z zastosowaniem techniki osadzania warstw atomowych (ALD). Badania cienkich warstw ZnO:Al były motywowane ich zastosowaniem jako elektrody w fotowoltaice kosmicz-nej. Wyznaczono grubości (d) cienkich warstw oraz ich właściwości optyczne takie jak współczynnik załamania (n) i współczynnika ekstynkcji (k). Strukturę cienkich warstw ZnO:Al określono metodą dyfrakcji promieniowania rent-genowskiego (XRD). Grubość warstw została potwierdzona poprzez jej pomiar za pomocą profilometru. Wyniki badań potwierdziły potencjalne zastosowanie cienkich warstw ZnO:Al jako elektrody w ogniwach PV.

Spectroscopic ellipsometry is an optical technique for studying thin films. The method has a non-destructive nature and high accuracy which makes it a basic tool for research in various fields including photovoltaics. In this paper, spectroscopic ellipsometry was used to measure aluminium-doped zinc oxide (ZnO:Al) thin films obtained using the atomic layer deposition (ALD) technique. The study of ZnO:Al thin films was motivated by their use as electrodes in space photovoltaics. The thicknesses (d) of the thin films and their optical properties such as refrac-tive index (n) and extinction coefficient (k) were deter-mined. The structure of the ZnO:Al thin films was assessed by X-ray diffraction (XRD). The thickness of the thin films was confirmed by measuring it with a profilometer. The results confirmed the potential use of ZnO:Al thin films as electrodes in PV cells.