Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2003

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: obwody dynamiczne

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Soft-fault diagnosis of dynamic circuits

100%

Tadeusiewicz M. , Kuczyński A.

Przegląd Elektrotechniczny

2003

tom R. 79, nr 10

750-753

Praca przedstawia metodykę diagnostyki liniowych i nieliniowych obwodów dynamicznych przy zastosowaniu pojedynczego punktu pomiarowego w obwodzie. Diagnostyka pozwala na identyfikację uszkodzonego elementu jak również na określenie wartości parametru tego elementu. Metoda bazuje na pomiarach wartości chwilowych sygnału w różnych chwilach czasowych w stanie nieustalonym obwodu. Metoda zilustrowana jest dwoma przykładami numerycznymi.

The paper deals with soft-fault diagnosis of linear and nonlinear dynamic circuits with a single test point. The diagnosis includes identification of faulty elements from among a set of testable elements and determination their parameters. A simulation after-test method is developed, based on an appropriate diagnosis equation and measurements carried out on the test point at different points of time during the transient process. The transient and sensitivity analyses are carried out simultaneously leading to a set of sensitivity vectors. They are used to form a rectangular testability matrix included in a diagnostic equation which expresses the node voltage perturbations in terms of the parameter deviations. The number of rows of the testability matrix is larger than the number of columns. Usually, the diagnostic equation cannot be solved uniquely, because some columns of the testability matrix (and corresponding them parameters) form ambiguity groups and some sensitivity values are very small. To identify the testable elements the known method based on QR factorization of the testability matrix can be applied. Next a set of the potentially faulty elements is formed and the modified diagnostic equation is solved leading to the parameter deviations. The method is illustrated using two numerical examples.