Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  nondestructive methods
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W pracy pokazano, jaki wpływ ma wysoka temperatura na destrukcję struktury płyty włóknisto-cementowej. Przedstawiono to na podstawie badań uzyskanych dla płyt, które przebywały w piecu tunelowym podczas jego awarii. Badane były płyty włóknisto-cementowe przebywające w piecu tunelowym podczas awarii oraz płyta wysuszona w prawidłowych warunkach. Do badań zastosowano nieniszczącą metodę emisji akustycznej w połączeniu ze sztucznymi sieciami neuronowymi. Rezultaty badań pozwoliły zaobserwować widoczne zmiany zachodzące w strukturze badanych płyt pod wpływem działania wysokiej temperatury.
EN
The paper presents the influence of high temperature to the destruction of the structure of fiber-cement board. It was shown on the results obtained for the boards that were in a tunnel furnace during the failure. Fiber cement boards were tested on the plate in a tunnel furnace during a failure and plate dried in normal conditions. During the research a non-destructive method of acoustic emission in combination with artificial neural networks were used. Results allowed to observe visible changes in the structure of the tested panels under the influence of high temperature.
PL
W artykule zaprezentowano tematykę bezkontaktowego mapowania czasów życia nośników w materiałach półprzewodnikowych z wykorzystaniem techniki modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach. Opisano szczegóły techniczne dotyczące realizacji stanowiska badawczego oraz wykorzystanej metody detekcji sygnału. Przedstawiono i przedyskutowano przykładowe mapy czasów życia nośników w krzemie monokrystalicznym. W pracy omówiono również sposób wyznaczania koncentracji pułapek odpowiedzialnych za skrócenie czasu życia nośników.
EN
In the paper the issue of a noncontact mapping of the lifetimes of carriers in semiconductor materials with the MFCA method is presented. The technical details of the construction of the experimental set-up and the applied method of detection are described. Example maps of the lifetime spatial distributions in the silicon samples are shown and discussed. In the paper the way of computation of the spatial distribution of the traps responsible for the shortening of the lifetime of carriers is also presented.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.