Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

2 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mikroskopia bliskiego pola

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Mikroskopia bliskiego pola optycznego na bazie rezonatorów kwarcowych

100%

Kulka T. , Gil P. , Woszczyna M. , Piotrowicz A. , Kowalska Z. , Radojewski J. , Gotszalk T.

tom Vol. 50, nr 9

53-55

W artykule zaprezentowano sposoby wykorzystania rezonatorów kwarcowych wraz z ostrzami światłowodowymi do badań powierzchni w mikroskopii bliskiego pola optycznego. Celem prezentowanej pracy była analiza wpływu przyklejonych ostrzy na charakterystyki częstotliwościowe rezonatorów. Skupiono się również na ocenie przydatności jedno- i dwupunktowych połączeń światłowód-rezonator w mikroskopii bliskich oddziaływań. W wyniku przeprowadzonych eksperymentów stwierdzono: - zmniejszenie się częstotliwości rezonansowej oraz dobroci widelca kwarcowego z przyklejonym na końcu kamertonu ostrzem światłowodowym w stosunku do rezonatora bez dodatkowego obciążenia; - rozrzut częstotliwości rezonansowej, związany np. z długością wystającego ostrza czy ilością kleju użytego do połączenia elementów; - całkowite rozstrojenie podwójnie klejonych układów ze względu na wielokrotne rezonanse w szerokim zakresie częstotliwości (nieprzydatne w mikroskopii SNOM).

This article presents quartz resonators together with glued fiber optic tips application in the near-field optical microscopy. The purpose of the study was to analyze the influence of connected tips on the frequency characteristics of resonators. Our work focuses also on the suitability of one-point and two-points connections between fiber and resonator in near-field microscopy. As a result of the experiments it was found: - a decrease in the resonance frequency and the quality factor of quartz fork with fiber tip glued at the end of resonator in relation to the resonator without the additional load; - resonant frequency change, associated with, for example: the length of waveguide tip or amount of glue used to connect components; - total detuning of double-glued systems because of the multiple resonances in a wide range of frequencies (not useful in SNOM microscopy).

Układ kontroli parametrów środowiskowych w komorze pomiarowej mikroskopu NC-AFM

84%

Sikora A.

tom Vol. 46, nr 12

81-82

Mikroskopia bliskiego pola jest jedną z metod diagnostyki powierzchni w skali mikro-i nanometrowej. Ponieważ uzyskane wyniki zależeć mogą od stanu powierzchni istotna jest kontrola warunków w komorze pomiarowej. Przedstawiono rozwiązanie umożliwiające pomiar temperatury oraz wilgotności powietrza przy użyciu cyfrowego czujnika firmy Sensirion.

Near Field Microscopy is one of diagnostic methods of the surface in micro-and nanoscale. Imaging quality is connected to environment conditions in the chamber. The article presents a setup which allow to measure relative humidity and temperature. The measurement is performed with digital sensor made by Sensirion company.