PL
 |
EN
Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Archives of Foundry
  2. 1 Archiwum Odlewnictwa
Lata help
  1. 1 2006
Autorzy help
  1. 1 Mutwil J.
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  mikroprocesorowy system pomiarowy
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Doskonalenie odlewniczych systemów produkcyjnych poprzez rozwój badań
100%
Mutwil J.
Archiwum Odlewnictwa
|
2006
|
tom R. 6, nr 19
195-200
PL
Omówiono znaczenie rozwoju badań w doskonaleniu odlewniczych systemów produkcyjnych. Opisano mikroprocesorowy system pomiarowy przystosowany do badania zjawisk i procesów odlewniczych. Opisano zastosowanie systemu do badania ewolucji skurczu odlewniczego i naprężeń skurczowych.
EN
The significance of research development in improving of casting production systems has been discussed. A microcomputer measuring system for investigation of the foundry phenomena and processes has been described. The application of measuring system for examination of casting contraction and contraction stresses evolution has been described.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.