Opisano sposób wyznaczania krzywej wskaźnikowej rozpraszania materiałów odbłyśnikowych pokrytych stożkową fakturą rozpraszającą z różnym współczynnikiem wypełnienia. W rozważaniach uwzględniono różne wartości kątów użytecznych i różne stopnie rozpraszania światła przez działanie faktury mikrostrukturalnej.
EN
The method for estimation of scattering indicatrix of small cones covered reflecting surface with different packing coefficient. In the discussion the different operational angles as well as different scattering grade of the microstructural scattering surface.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.