W pracy przedstawiono metodę testowania funkcjonalnego części kombinacyjnej układu cyfrowego wykorzystywanego w implementacji funkcji skrótu. Proponowane rozwiązanie wykorzystuje fakt, że dowolny ciąg wejściowy ulega w procesie przetwarzania przekształceniu w ciąg pseudolosowy, co umożliwia wykorzystanie techniki testowania losowego do testowania układu. W pracy zaproponowano modele uszkodzeń i pokazano metodę określania rozmiaru danych wejściowych niezbędnych do wykrycia uszkodzeń z założonym prawdopodobieństwem. Metodę zilustrowano na przykładzie funkcji skrótu BLAKE.
EN
The paper presents a method of functional testing of the combinational part of a digital circuit used for hash function implementation. The proposed solution is based on the fact, that during the processing every input sequence is converted into random sequence. There for ewe can use random testing methods for the circuit testing. In the paper we describe considered fault models and present a method of evaluation of the input sequence size required for testing the circuit with given probability. The method is illustrated using the BLAKE hash function.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.