Głównym celem przedstawionych w artykule badań była analiza warunków nanoszenia i formowania warstw dielektrycznych na jakość tych warstw. Warstwy obserwowano za pomocą mikroskopu Axio Imager MAT firmy Carl Zeiss. Analizowano powierzchnię pod kątem powstałych defektów i istniejących zanieczyszczeń.
EN
The main objective of the research in the article was an analysis of the conditions applied and the formation of dielectric layers on the quality of these layers. Layers were observed with microscope mikroskopu Axio Imager MAT Carl Zeiss firm. Analyzed in terms of surface defects created and the existing pollution.
W artykule przedstawiono wyniki badań eksperymentalnych wpływu warunków nanoszenia rozwirowywanych roztworów krzemowych o wysokiej koncentracji domieszki na parametry elektryczne warstwy emiterowej ogniwa słonecznego.
EN
This paper presents the results on study of the influence of experimental conditions for the deposition of spin-on glass silicon solutions of the hic dopant concentration on the electrical parameters of the solar cells emitte layers.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.