Fifteen years ago, the Epstein frame to the independent Single Sheet Tester (SST92) relation was determined using a large number of correlated grain-oriented samples [1], and the results are reflected in Annex C of IEC standard 60404-3 [2]. Whilst those results were achieved using the same equipment of one reference laboratory, the new data originate from measurements on sample pairs from different manufactures using their own measuring equipment. The resulting Epstein to SST92 ratios show slightly higher values than the old ones, and a considerable dispersion. The reasons for these phenomena are discussed and further experiments for their clarification proposed.
PL
Piętnaście lat temu zaprezentowano porównanie wyników badań różnych próbek blach elektrotechnicznych wykonanych metoda Epsteina i przy wykorzystaniu testera próbek arkuszowych SST92. Wyniki pochodziły z badania próbek w tym samym laboratorium. Nowe wyniki zaprezentowane w pracy przedstawiają badania różnych próbek w różnych laboratoriach. Otrzymano nieco większy rozrzut zmierzonych wartości. W artykule analizuje się przyczyny tych różnic.
2
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
W artykule przedstawiono skomputeryzowany system do pomiaru własności fizyczno-chemicznych (kąt zwilżania, napięcie powierzchniowe) wybranych materiałów w wysokotemperaturowych procesach przemian fazowych. Zastosowanie w omówionym systemie, specjalnie opracowanych metod przetwarzania i analizy obrazów, pozwoliło na uzyskanie większej dokładności oraz powtarzalności pomiarów, niż w systemach stosowanych obecnie. Przedstawiona została historia stanowiska oraz aktualnie prowadzone prace rozwojowe.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.