Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

1 Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji

1 2004

1 Tabaszewski M.

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: machine tool center

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Badanie dynamiki elektrowrzeciona pionowego centrum obróbkowego DMC73V

100%

Tabaszewski M.

Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji

2004

tom Vol. 24, nr 2

213-222

Artykuł zawiera opis metodyki badań dynamiki elektrowrzeciona pionowego centrum obróbkowego DMC73V. Przedstawiono dwa rodzaje testów: test polegający na badaniu przyspieszeń występujących w trakcie drgań elektrowrzeciona podczas pracy bez obciążenia oraz test impulsowy. Pierwszy test był przeprowadzony dla różnych prędkości obrotowych elektrowrzeciona w zakresie 200-30 000 obr/min. Za pomocą obu testów oraz analizy w dziedzinie czasu i częstotliwości udało się określić potencjalne obszary częstotliwości wymuszeń, w których mogą występować podwyższone poziomy drgań. Oba testy - impulsowy i zmiennej prędkości obrotowej - uzupełniają się. Wynika to przykładowo z faktu, że w obu testach występuje różna charakterystyka wymuszeń oraz że badany obiekt może mieć inną charakterystykę, gdy jest zasilany i gdy nie jest zasilany.

The paper contains description of investigation methodology of electro-spindle dynamics of machine tool center DMC73V. Two kinds of test was presented: test of vibration acceleration for work without load, and impulse test. The first one was realized for various rotate velocity of electro-spindle between 200 and 30 000 rpm. By both of the tests in time and frequency domain analysis it was possible to define bands of resonance frequency, in which level of vibration may be intensified. The both tests are complementary. For example it is result of different characteristic of the excitation and different characteristic of object in power supply state and without.