Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: layered crystals

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Studies of CdI2-Bi3 microstructures with optical methods, atomic force microscopy and positron annihilation spectroscopy

100%

Karbovnyk I. , Bolesta I. , Rovetskii I. , Velgosh S. , Klym H.

tom Vol. 32, No. 3

391--395

Results of the comprehensive morphological study of CdI2–BiI3 layered crystals are presented. Direct AFM observations of micro- and nanostructures formed in the volume of the crystals confirm the predictions made on the basis of positron annihilation spectroscopy studies. The model explaining the possible pores formation mechanism is proposed and validated by the results of luminescence measurements at 8 K.

Investigation of crystalline structure defects in high-resistance monocrystals of gallium selenide

63%

Allakhverdiev K. , Bikbajevas V. , Grivickas V. , Odrinski A. , Guseinova D. , Salaev E. , Tarasik M. , Fedotov A.

tom R. 86, nr 7

208-210

The trapping centres in E-GaSe single crystals have been investigated by photo-induced current transient spectroscopy (PICTS). Five traps have been detected and their parameters are presented. It has been demonstrated that photo-induced depolarization oh the sample after processing in the frame of DLTS procedure could be used for determination of the traps parameters. The parameters of trap A5 obtained from PICTS and photo-induced depolarization relaxation are in close agreement.

Badano centra pułapkowe w pojedynczych kryształach E-GaSe metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej (PICTS). Wykryto pięć pułapek, których parametry zaprezentowano. Wykazano, że foto-indukowana depolaryzacja próbki po zastosowaniu spektroskopii niestacjonarnej pojemności (DLTS) może być użyta do określenia parametrów pułapek, Parametry pułapki A5 otrzymane przy pomocy PICTS oraz DLTS wykazują wysoki stopień zgodności.