Artykuł wyjaśnia potrzebę konstrukcji komory ekranującej mającej zastosowanie w stanowisku do pomiaru szumów fazowych generatorów mikrofalowych. Zadaniem powyższej komory jest zapewnienie niezmiennych warunków pomiarowych oraz eliminacja szumów pochodzenia zewnętrznego. W dalszej części zostały przedstawione wyniki pomiarów charakteryzujące skonstruowany obiekt oraz jego wpływ na pomiar szumów fazowych w pasmie X.
EN
This article presents the necessity of the construction of the proper housing which is used in the phase noise measurements of microwave oscillators in order to obtain stable measurement conditions as well as elimination of external spurious signals. In the latter part we present methods followed by the results that can characterize constructed object and its influence on the quality of the phase noise measured in the X band.
2
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
Prace prowadzone w IEC przez Grupę Roboczą WG9 w ramach Podkomitetu Technicznego SC 47A Układy Scalone, doprowadziły do opublikowania 5 dokumentów normalizacyjnych opisujących metody pomiarowe emisji zaburzeń elektromagnetycznych z układów scalonych. W pracy przedstawiono krótko opracowane dokumenty i zawarte w nich metody pomiarowe. Więcej uwagi poświęcono tworzonym obecnie normom dotyczącym metod pomiaru odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne promieniowane i przewodzone. W trzeciej części pracy omówiono kwestie dotyczące modelowania układów scalonych, które ma na celu umożliwienie przewidywania i ocenę kompatybilności elektromagnetycznej tych układów, głównie w fazie ich projektowania.
EN
Intensive works conducted inside IEC by the Working Group WG9 of Technical Subcommittee 47A Integrated Circuits, allowed for the elaboration and publication of 5 standard documents (6 regarding the general part) IEC 61967 series, which describe the measurement methods of electromagnetic emissions of integrated circuits. These documents and the covered measurement methods are shortly reviewed in the work. More attention is paid to the currently considered standards embracing the measurement methods of ICs immunity against radiated and conducted electromagnetic disturbances. Among the methods there are following: testing inside TEM and GTEM cells, bulk current injection BCI, direct power injection DPI and testing inside workbench Faraday cage WBFC. Third part of the work is devoted to the problems of modeling of integrated circuits for the purpose of prediction and estimation of electromagnetic compatibility properties of these circuits, mainly at their design phase.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.