W artykule opisano problem programowania odpowiedzi czasowej półprzewodnikowych źródeł światła. Zaproponowano metodę modelowania odpowiedzi z użyciem przestrajanych źródeł prądowych. Następnie przedstawiono układ aplikacyjny wykorzystujący proponowaną koncepcję. W końcowej części zamieszczono przykładowe wyniki pomiarów wraz z ich krótką interpretacją.
EN
This paper describes the problem of programming the timing response of semiconductor light source. In the beginning a method of modeling the response has been proposed. This method uses tunable current sources. In the next part of the work was discussed practical circuit applying this method. In the final part of the paper, the measurement results were placed and their brief interpretation.
W artykule opisano możliwość zastosowania kamery smugowej do pomiaru wybranych, widmowych i czasowych parametrów LED-owych źródeł światła. Omówiono w nim również przebieg procesu pomiarowego z użyciem tego przyrządu. Następnie przedstawiono sposób wyznaczania charakterystyk widmowych i czasowych źródła promieniowania. W końcowej części artykułu dokonano porównania opisanej techniki pomiarowej w stosunku do stosowanych innych metod i przyrządów pomiarowych.
EN
This article describes the possibility of using the streak camera to measure chosen parameters of LED sources – like transient and spectral characteristics. It discusses a measurement process flow using a tracer camera. Then was presented a method for measuring the spectral and transient parameters of radiation. In the final part of the paper, there was compared this measurement method in relation to the alternative solutions.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.