W pracy rozważono testowanie układu implementującego funkcję skrótu HaF-256. Układ ten wyróżnia się na tle innych funkcji skrótu stosunkowo dużą złożonością wynikającą z zastosowania dużych bloków podstawieniowych. Pokazano, że testowanie losowe jest skuteczne w odniesieniu do HaF-256 i wyznaczono długość sekwencji wejściowej niezbędnej do uzyskania założonego prawdopodobieństwa wykrycia błędu. Rodzina funkcji skrótu HaF składa się z trzech funkcji: HaF-256, HaF-512 i HaF-1024. Ze względu na bardzo podobny schemat przetwarzania uzyskane wyniki w dużym stopniu odnoszą się do wszystkich funkcji HaF.
EN
We consider testing of hardware implementation of HaF hash function in the paper. The circuit contains big S-boxes, which complicates it’s testing. We have shown that random testing method is applicable to HaF function testing, described the considered fault models and presented the method of evaluation of the input sequence size required for testing the circuit with given probability. The HaF hash function family consists of three functions: HaF-256, HaF-512, and HaF-1024. Because of very similar processing scheme, our results relate to all the functions.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.