W artykule omówiono zasady działania opracowanego algorytmu łączącego możliwości rozpoznawania występujących jednocześnie uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych w nieliniowych, analogowych układach elektronicznych. W wyniku wstępnego przetworzenia sygnałów testowych, otrzymanych na drodze pomiaru układów zawierających założone uszkodzenia, tworzone są sygnały uczące jednokierunkową sieć neuronową aproksymującą cechy układu. W treści zamieszczono przykłady ilustrujące działanie prezentowanej metody.
EN
This paper provides an algorithm that allows simultaneous catastrophic and parametric faults recognition in nonlinear analog circuits. First we establish dictionary containing signals measured at the chosen outputs of the unbroken and having assumed faults circuits. The mentioned signals are filtered to get important information, which will be used to learn artificial neural network to recognition the faults. The method is tested by representative examples which are described in the paper.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.