A discrete wavelet transform based dynamic supply current analysis technique for detecting the catastrophic faults in analog circuits containing transistor is investigated in the paper. Some considerations due to a problem of fault localization using multiresolution approximation and the illustrative numerical example are presented.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.