Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

1

Elektroniczny przyrząd pomiarowy HMG 3000

100%

Herdzin R.

|

2008

|

tom R. 10, nr 7/8

125-126

PL

HMG 3000 jest przenośnym przyrządem pomiarowym przeznaczonym do pomiarów i rejestracji danych w urządzeniach hydraulicznych i pneumatycznych. Główne zastosowanie znajduje w zakresie serwisu, naprawy i diagnostyki maszyn oraz na stanowiskach badawczych w placówkach naukowych. HMG 3000 pozwala jednocześnie odbierać sygnały z maksymalnie dziesięciu czujników. Do przyłączenia czujników jest do dyspozycji pięć gniazd wejściowych, które w razie potrzeby (pomiary dla więcej niż pięciu czujników) mogą być zdwojone za pomocą adaptera. Y. HYDAC ELECTRONIC oferuje czujniki HSI (HYDAC Sensor Interface) do pomiarów ciśnienia, temperatury i natężenia przepływu, które są automatycznie rozpoznawane przez przyrząd HMG 3000 i mogą być ustawiane względem zakresu pomiarowego i jednostek.

2

Układ nawigacji zliczeniowej do korekcji odczytów GPS w terenie miejskim

75%

Barański P. , Strumiłło P.

|

2009

|

tom R. 85, nr 11

160-163

PL

W artykule omówiono układ elektroniczny do korekcji odczytów GPS w terenie miejskim. Układ ten jest noszony przez pieszego. Zaprojektowane urządzenie zawiera czujnik GPS, akcelerometr oraz kompas elektroniczny. Akcelerometr służy do zliczania kroków oraz pomiaru ich długości. Kompas elektroniczny wykorzystywany jest do określenia kierunku marszu osoby. W przypadku stwierdzenia niedokładności odczytów GPS, położenie geograficzne pieszego jest korygowane na podstawie odczytów z czujnika przyspieszenia oraz kompasu elektronicznego.

EN

The article presents an electronic device for correcting GPS readouts in urban terrain by a sensor carried by a pedestrian. The device consists of a GPS sensor, accelerometer and digital compass. The accelerometer is used to detect steps of a person as well as to estimate their length. The digital compass provides the heading direction of the person. In case of poor quality of GPS readouts, the location of the person is corrected by the data provided by the accelerometer and the digital compass.

3

Analysis and design of electronic device cooling system elements in forced convection conditions

63%

Felczak M.

|

2008

|

tom z. 115

19-25

EN

The first part of the work includes a study of elements enhancing heat transfer in electronic devices. In the second part, a numerical model for the electronic device placement optimization on the PCB, including a genetic algorithm and a thermal solver is presented. The genetic algorithm searches for arrangements that are checked by the thermal solver if they satisfy requirements of the designer. Three optimizing problems are considered. The optimization of in-line placed devices is the first one. The second one is the optimization of placement of nine devices on the surface of a PCB on the assumption that devices can be placed in nine specified positions on the PCB. The third one is the optimization of placement of nine devices on the assumption that devices can be placed on the whole board.

PL

Zostały opracowane nowe metody wykorzystujące algorytmy genetyczne do optymalizacji rozmieszczenia układów elektronicznych na płytce drukowanej. Umożliwiają one optymalizację położenia układów elektronicznych w jednym oraz w dwóch wymiarach. Modele składają się z dwóch najważniejszych części funkcjonalnych: algorytmu genetycznego (wraz z kryteriami optymalizacji) poszukującego optymalnego rozmieszczenia oraz oprogramowania do obliczeń rozkładu temperatury na powierzchni badanych układów. Pierwszy model dotyczy optymalizacji kolejności elementów elektronicznych umieszczonych w linii. Algorytm umożliwia optymalizację ich kolejności oraz w późniejszej wersji również odstępów pomiędzy nimi. Możliwa jest optymalizacja jednokryterialna przy użyciu termicznych kryteriów optymalizacji takich jak wartość maksymalnej oraz średniej temperatury spośród wszystkich elementów jak również wielokryterialna przy użyciu kryterium ważonego z wartości temperatury maksymalnej i średniej. Stworzony został własny program obliczający wartości temperatury rozważanych układów elektronicznych (poprzez rozwiązanie równań Naviera-Stockesa oraz Kirchhoffa-Fouriera [3]). Drugi algorytm służy do optymalizacji rozmieszczenia układów elektronicznych na powierzchni płytki drukowanej (model termiczny 3D). Założono, że układy elektroniczne będą umieszczone w matrycy nxn elementów. Algorytm ten w porównaniu z poprzednim posiada bardziej skomplikowany model termiczny. Z tego powodu do wyznaczania wartości temperatury zostało użyte oprogramowanie komercyjne ANSYS®. Algorytm genetyczny jako program nadrzędny wywołuje oprogramowanie ANSYS® przekazując jednocześnie informacje o rozmiarach i gęstościach mocy poszczególnych źródeł ciepła. Wynik obliczeń (wartości temperatury poszczególnych źródeł) zwracany jest w pliku tekstowym. Algorytm wykorzystując zadane kryteria ocenia optymalność rozwiązania. Przeprowadzono optymalizację rozmieszczenia układów elektronicznych przy wykorzystaniu modelu jedno- i dwuwymiarowej optymalizacji. Dla pierwszego przypadku przeprowadzono optymalizację położenia układów elektronicznych ze względu na następujące kryteria termiczne: wartość temperatury maksymalnej, średniej, kryterium ważone z wartości temperatury maksymalnej oraz średniej. W drugim przypadku, optymalizowano rozmieszczenie układów elektronicznych na powierzchni podłoża PCB. Rozważono zarówno przypadek, kiedy algorytm może umieścić układy elektroniczne tylko w określonej liczbie miejsc równej liczbie elementów elektronicznych, jak również bardziej skomplikowany przypadek, kiedy układy elektroniczne mogą być umieszczone w dowolnym miejscu płytki drukowanej. Wszystkie dotychczasowe kryteria wzbogacono o kryterium dodatkowe, długości połączeń pomiędzy elementami. Został przeprowadzony szereg optymalizacji dla różnych mocy układów elektronicznych. Uwzględniono skomplikowane przypadki gdzie każdy z układów elektronicznych rozprasza różną gęstość mocy jak również proste przypadki, dla których rozwiązanie jest proste do przewidzenia. Wyniki pokazują, że przyjęta metoda optymalizacji jest uzasadniona. Symulowane modele termiczne zostały zweryfikowane poprzez pomiary termowizyjne w tunelu powietrznym.

4

Zmodyfikowany model prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych

51%

Zeng S. , Sun B. , Tong C.

|

2009

|

tom nr 4

4-9

PL

Prognozowanie niezawodności urządzeń elektronicznych oparte na modelu fizyki uszkodzeń (PoF) jest obarczone niepewnościami. Opierając się na połączeniu testu Kołmogorowa-Smirnowa (testu K-S) i metody symulacji Monte Carlo, w niniejszej pracy zaprezentowano zmodyfikowaną metodę prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych, która bierze pod uwagę ograniczoną liczbę danych testowych o uszkodzeniach. Ilościową charakterystykę głównych czynników niepewności modelu stworzono na podstawie wskaźnika zdolności procesu (Cpk). W pierwszej części pracy badano stopień dopasowania pomiędzy teoretycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych obliczanym w oparciu o PoF przy użyciu metody symulacji Monte-Carlo a empirycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych uzyskanym na podstawie testowych lub terenowych danych o uszkodzeniach przy życiu metody K-S. W części drugiej, dokonano optymalizacji skorygowanego współczynnika modelu. Wreszcie, na podstawie przykładu modelu oceny termicznej wytrzymałości zmęczeniowej połączenia lutowanego oraz wybranych danych testowych o uszkodzeniach dokonano weryfikacji proponowanej metody. Wyniki prognoz uzyskane na podstawie zmodyfikowanego modelu są zgodne z wynikami testowymi.

EN

There exist uncertainties in the prediction of electronic device reliability based on PoF (physics of failure) model. Based on the combination of Kolmogorov-Smirnov test (KS-test) and Monte-Carlo simulation method, this paper presents a modified method for reliability prediction of electronic devices considering limited test failure data. The process capability index (Cpk) is used to quantitatively characterize the main factors of model uncertainties. Firstly the degree of fitting between the theoretical probability distribution of electronic device failures based on PoF by using the Monte-Carlo simulation method and the practical probability distribution of electronic device failures based on test or field failure data is tested by using K-S test method. Secondly the corrected coefficient of the model is optimized. Finally, a solder thermal fatigue life assessment model and some test failure data are used to verify the proposed method in the illustrative example. The prediction results calculated by modifi ed model are consistent with test results.

5

The impact of radiation on electronic devices with the special consideration of neutron and gamma radiation monitoring

44%

Makowski D.

|

2007

|

tom z. 111

73-80

EN

This paper reports the work done in the development of a new neutron fluence sensor and a radiation-tolerant readout system. The presented SRAM-based neutron fluence dosimeter is particularly useful for a design of a real time monitoring system, whereas the readout system enables its operation in the radioactive environment. The well-known RadFET dosimeter was utilized for the gamma radiation measurement. Despite the fact that the design of the radiation monitoring system is dedicated to FLASH, both the neutron fluence detector and the readout system can be utilised in other applications. The system can be employed to gauge neutron and gamma radiation doses in various accelerators, colliders and detectors used for the analysis of high-energy collisions products.

PL

Praca dotyczy ważnej tematyki wpływu promieniowania gamma oraz neutronowego na pracę układów elektronicznych. Autor zaproponował wykorzystanie komercyjnie dostępnej pamięci statycznej SRAM do detekcji neutronów oraz zbudował kilka prototypów układów odczytowych zdolnych do pracy w warunkach podwyższonego promieniowania. Warty podkreślenia jest fakt, że zaprojektowany detektor oraz zabudowane prototypy zostały zbudowane z komercyjnie dostępnych układów oraz praktycznie przebadane. Zaprojektowany system do monitorowania promieniowania gamma oraz neutronowego w czasie rzeczywistym RadMon (Radiation Monitor) został zainstalowany w pięciu wyznaczonych miejscach w tunelu akceleratora FLASH znajdującego się w ośrodku naukowo-badawczym DESY. Układ został zaprojektowany pod kątem pomiaru promieniowania w akceleratorach FLASH oraz X-FEL, jednak może zostać wykorzystany do pomiaru promieniowania w innych akceleratorach fizycznych i medycznych. W pracy przedstawiono projekt detektora fluencji neutronów zbudowanego w oparciu o pamięć statyczną SRAM. W czasie kilkuletnich badań przetestowano ponad sto różnych egzemplarzy pamięci statycznych oraz nieulotnych pamięci statycznych NVRAM. W trakcie badań zauważono, że nowoczesne pamięci o dużych pojemnościach wyprodukowane w nowoczesnych technologiach wykazują mniejszą wrażliwość na występowanie błędów SEU niż pamięci starsze. Z tego względu czułość detektora nie może zostać zwiększona poprzez użycie nowoczesnych pamięci o coraz to większych pojemnościach. W celu poprawy czułości detektora opracowano szereg metod zwiększających wrażliwość pamięci statycznej na błędy SEU. Podczas badań wykorzystywano pamięci NVRAM do pomiarów względnych promieniowania neutronowego oraz do oszacowania bezwzględnej fluencji neutronów. Zaprojektowano dedykowany układ odczytowo-programujący nieulotne pamięci statyczne oraz opracowano metody umożliwiające bezpieczne przechowywanie informacji konfiguracyjnych w pamięciach NVRAM. W ramach doktoratu zbudowano i przebadano pięć wersji układów odczytowych wykorzystujących różne algorytmy i rozwiązania układowe do korekcji błędów wygenerowanych przez neutrony. Zaproponowano metody pozwalające na projektowanie układów tolerujących błędy wywołane promieniowaniem. Zaprojektowany detektor fluencji neutronów oraz układy odczytowe zostały praktycznie przebadane podczas eksperymentów ze źródłem neutronów wykorzystującym izotop ameryku 241AmBe oraz w tunelach akceleratorów FLASH i LINAC II.