PL
 |
EN
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 6

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  electronic circuits
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Analog circuits diagnosis using discrete wavelet transform of supply current
100%
Kuczyński A. , Ossowski M.
|
2009
|
tom Vol. 16, nr 1
77-84
EN
A discrete wavelet transform based dynamic supply current analysis technique for detecting the catastrophic faults in analog circuits containing transistor is investigated in the paper. Some considerations due to a problem of fault localization using multiresolution approximation and the illustrative numerical example are presented.
2
Wpływ współpracujących układów elektronicznych na proces starzenia ultrastabilnych generatorów kwarcowych
86%
Nafalski L. , Gniewińska B.
|
2007
|
tom Vol. 48, nr 8
47-51
PL
Przedstawiono wyniki badań pozwalające ocenić udział w procesie starzenia współpracujących z rezonatorem układów elektronicznych i układu stabilizacji temperatury Stwierdzono bardzo duży wpływ elementów pojemnościowych wykonanych z tworzywa X7R. Przeprowadzono badania wpływu na zachowanie w czasie generatora warunków hermetyzacji generatora. Wyodrębniając i minimalizując wpływ elementów na proces starzenia uzyskano w opracowanych w ITR generatorach bardzo dobre wyniki stałości długoterminowej.
EN
In the paper the research results that allow the evaluation of the influence of oscillator electronic circuits and temperature stabilization circuit on the aging process have been presented. Very large influence of capacitive elements made from X7R material has been found out. The influence of hermetization conditions on the behavior of the oscillator over time has been investigated. Isolating and minimizing the influence of the electronic elements on the aging process made it possible to obtain very good long term stability of oscillators developed at ITR.
3
Wpływ układów elektronicznych współpracujących z rezonatorem kwarcowym na proces starzenia ultrastabilnych generatorów kwarcowych
86%
Nafalski L.
|
2009
|
tom nr 11
2007-2010
PL
Przedstawiono wyniki badań umożliwiające ocenę udziału w procesie starzenia współpracujących z rezonatorem układów elektronicznych i układu stabilizacji temperatury. Stwierdzono bardzo duży wpływ elementów pojemnościowych wykonanych z tworzywa X7R. Przeprowadzono badania wpływu na zachowanie w czasie generatora warunków hermetyzacji. Wyodrębniając i minimalizując wpływ elementów jego na proces starzenia w opracowanych w ITR generatorach bardzo dobre wyniki stałości długoterminowej.
EN
Research results are presented that allow assessing the influence of electronic circuits and temperature stabilization circuit working with resonator on ageing process. Great influence of capacitant elements made of X7R material has been found. Examination of influence of generator hermetization conditions on generator behavior in time has been conducted. Very good results of long term stability in generators developed in ITR has been obtained by selecting and minimizing influence of elements on ageing process.
4
Wyznaczanie punktów pracy przyrządów półprzewodnikowych z wykorzystaniem techniki obliczeń ewolucyjnych
86%
Gajer M.
|
2010
|
tom R. 78, nr 12
10-12
PL
Przedstawiono metodę pozwalającą na przeprowadzenie analizy stałoprądowej układów elektronicznych z dowolnie zadaną dokładnością, wykorzystując algorytmy ewolucyjne.
EN
The paper presents a method that enables dc analysis of electronic circuits with an arbitrary set accuracy, using evolutionary algorithms.
5
Poprawa skuteczności wykrywania uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych
72%
Kuczyński A. , Ossowski M.
|
|
tom Vol. 48, nr 11
108-110
PL
Zaprezentowano sposoby poprawy selektywności metody wykrywania uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych, polegającej na analizie czasowo-częstotliościowej prądu zasilania w stanie nieustalonym. Zaproponowano i zweryfikowano metodę optymalizacji (GA) parametrów transformacji falkowych, obejmującą dobór skali i kształtu falki. Do detekcji błędu zaproponowano współczynnik, który uwzględnia tolerancję elementów układu.
EN
A wavelet transform based dynamic supply current analysis technique for detecting catastrophic faults in analog circuits is investigated in the paper (IDD). Wavelet transform, having the property of resolving events in both time and frequency domain simultaneously, preserve higher fault detection sensitivity than time-domain or Fourier methods. Some methods for improving this sensitivity are proposed and verified. Genetic algorithms were used to optimize a special goal function enabling us to choose a type and parameters of continuous wavelet transform (CWT).
6
Content available Dydaktyczne obrazy dynamiczne w wykładach zogniskowanych na układach elektronicznych – model metodyczny
72%
KRUPA K.
Edukacja-Technika-Informatyka
|
2015
|
tom 6
|
nr 2
70-74
PL
Treść artykułu koncentruje się na prezentacji modelu metodycznego stosowania dydaktycznych obrazów dynamicznych w wykładzie z elektroniki analogowej ogniskującym się na układach elektronicznych.
EN
The content of the paper focuses on presenting a model of teaching methodical application of didactic dynamic pictures in an academic lecture focusing on electronic circuits.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.