Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  dyfraktometr rentgenowski
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Characteristics of ZnO thin films deposited by atomic layer deposition
100%
EN
Purpose:The aim of this article was to examine the adhesion of ZnO thin films and the influence of temperature deposition process on their morphology. ZnO thin films have been deposited by atomic layer deposition. Design/methodology/approach: Adhesion of ZnO thin films was investigated using the scratch test method. Changes in the surface morphology were observed by scanning electron microscope (SEM). In order to confirm the chemical composition and phase investigated of thin films was carried out Energy-dispersive X-ray spectroscopy EDS and X-ray analysis. Findings: Results and their analysis have shown that the ZnO thin films deposited by ALD are uniform and homogenous. Significant impact on their morphology has the temperature of the deposition process. In the case of the adhesion temperature is negligible. Practical implications: Knowledge about the ALD ZnO thin films are possibility to obtaining a uniform thin films show that material has a big potential in optoelectronics and photovoltaic application. Originality/value: The article presents the original research results of the structure and properties of ZnO thin films deposited by ALD method, that can replace a commonly used transparent conductive layer.
PL
W pracy przedstawiono wyniki badań ultralekkich stopów magnezu i litu o strukturze dwufazowej α-β i jednofazowej β z zastosowaniem skaningowej mikroskopii elektronowej z analizą chemiczną w mikroobszarach (SEM + EDX - Philips XL30 + EDAX) i rentgenowskiej analizy fazowej (XRD - dyfraktometr rentgenowski D8 Advance, Bruker). Refleksy dyfrakcyjne zinterpretowano na podstawie katalogu PDF-2. Stwierdzono, że dodatek pierwiastków stopowych, takich jak wapń czy aluminium wyraźnie zmienia strukturę stopu jednofazowego Mg-Li α bądź β. Dodatek wapnia w odlewanym stopie podwójnym Mg-Li-Ca powoduje powstanie struktury dwufazowej składającej się z dendrytów fazy β oraz płytkowej eutektyki CaMg2 i prawdopodobnie fazy α. Dodatek aluminium w odlewanym stopie podwójnym Mg-Li-AI powoduje powstanie materiału dwufazowego α i β. Stop Mg-18,4%Li-1,2%Zn jest stopem jednofazowym β z cynkiem rozpuszczonym w osnowie.
EN
The study presents the results of examinations carried out on ultra-light magnesium- and lithium- based alloys of two-phase α-β structure and monophase β structure using scanning electron microscopy with chemical analysis in microregions (SEM + EDX - Philips XL30 + EDAX) and X-ray phase analysis (XRD - X-ray diffractometer model D8 Advance, Bruker). The diffraction reflexes were interpreted from a PDF-2 catalogue. It was observed that the addition of alloying elements (calcium or aluminium) definitely changes the structure of monophase Mg-Li α or β alloys. Calcium addition to a cast binary Mg-Li-Ca alloy results in the formation of two-phase structure composed of β phase dendrites, lamellar CaMg2 eutectic, and probably α phase. The addition of aluminium to a cast binary alloy from the Mg-Li-AI system results in the formation of a two-phase α and β system. The Mg-18,4%Li-1,2%Zn alloy is a monophase β structure material with zinc dissolved in alloy matrix.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.