Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
Lata help
Autorzy help
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  difference interferometer
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
|
|
tom Vol. 42, nr 2
407-416
EN
The paper presents the results of investigations concerning the measurements of the refractive index and the thickness of planar waveguide structures, obtained by photopolymerization of the polymer SU8. In the paper, the mode sensitivity has been calculated as a function of the thickness in a bimodal structure. The differential interference has been analyzed, concerning the modes of the same types TE0-TE1 and TM0-TM1. The thickness of the layer has been determined when the interferometer is most sensitive to the changes in the refractive index.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.