Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: cienka folia

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wykorzystanie wiązki jonów Ga+ do wycinania preparatów do obserwacji w mikroskopie transmisyjnym

100%

Morgiel J. , Major Ł. , Grzonka J. , Wojewoda J. , Pomorska M.

tom Vol. 48, nr 10

46-49

Przedstawiono podstawowe aspekty przygotowania preparatów do obserwacji w mikroskopie transmisyjnym drogą cięcia wiązką jonów Ga+, tzw. FIB (Focused Ion Beam). Preparaty wycinano na urządzeniu FEI typu Quanta 3D wyposażonym w mikromanipulator Omniprobe. Omówiono pozyskiwanie preparatu, określane jako H-bar, oraz przy wykorzystaniu mikromanipulatora, tj. pobranie preparatu w komorze urządzenia określane jako in-situ. Wykorzystanie drugiego sposobu pozwala na większą elastyczność prowadzenia obserwacji, tj. umożliwia pochylanie preparatu w większym zakresie kątów oraz sprzyja wysokiej precyzji pomiarów mikroanalizy składu chemicznego. Ta nowa w skali światowej i dopiero wprowadzana w Polsce technika przełamująca wiele barier w preparatyce cienkich folii powinna znacznie rozszerzyć zastosowanie mikroskopii transmisyjnej w badaniach materiałowych.

The two most common approaches of thin foils preparation using Ga+ Focused Ion Beam type Quanta 3B by FEI company is presented. The first one frequently called the H-bar relies on mechanical thinning and final removal of material leaving a kind of a window transparent to electron beam at the sample side. The second, called in-situ is realized by cutting fine slab of a material of a size approximately of 25x10x1 um, picking it with Omniprobe micro-manipulators, fixing to copper grid and finally thinned down to electron transparency. The second procedure allows far more flexibility during transmission electron microscopy observations, i.e. larger tilt angles and raises precision of local chemical measurements. These new techniques of sample preparations help in extending transmission electron microscopy characterization to materials which due to technical problems were not available up to now.

New challenge for instrumentation in lab and industry: X-ray measurements on surfaces of large components.

59%

Haase A.

tom R. XXIII, nr 5

707-707

A new Diffractometer 'ETA' for surface gradient investigations has been designed to study polycrystalline materials in the near surface region. In contrast to standard instrument geometry for phase, texture and stress analysis on homogeneous materials it is possible to perform measurements on materials with gradient fields like stress, texture and composition gradient of some combination of it. The new 5-circle diffractometer concept allows for a Theta-Theta Bragg reflection condition a sample rotation Eta around the scattering vector for fixed positions (Phi, Chi) with respect to the sample system. Information of depth distribution of gradients compared to classical average penetration results can be described in applications of thin films or gradient standards.

Nowy dyfraktometr "Eta" do pomiaru podpowierzchniowych gradientów został skonstruowany tak, by zbadać polikrystaliczne materiały w obszarach w warstwach podpowierzchniowych. W przeciwieństwie do geometrii standardowych urządzeń do badania faz, tekstur i analizy naprężeń w jednorodnych materiałach, tutaj możliwe jest przeprowadzenie pomiarów dla materiałów z gradientowym polem naprężeń, tekstury i gradientem składu chemicznego lub kombinacji powyższych. Koncepcja nowego 5-cio łukowego dyfraktometru pozwala na: spełnienie warunków odbicia Braggowskiego typu Theta-Theta, rotacji próbki ETA dookoła wektora rozproszenia dla stałej pozycji (Phi, Chi) w odniesieniu do systemu próbki. Informacje odnośnie głębokości dystrybucji gradientów porównane do klasycznej średniej penetracji mogą być opisane w zastosowaniach do cienkich folii lub gradientowych standardów.