Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2008

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: charge pumpipng

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Modelowanie prądu pompowania ładunku w dwubramkowych strukturach MOS z bardzo cienką warstwą aktywną

100%

Łukasiak L. , Tomaszewski D. , Sawicka A. , Głuszko G. , Iwanowicz M. , Jakubowski A.

tom Vol. 49, nr 9

92-95

W pracy przeanalizowano wpływ grubości warstwy aktywnej oraz tlenku bramkowego na prąd pompowania ładunku w dwubramkowych strukturach MOS z bardzo cienką warstwą aktywną. Sprawdzono także, czy istnieje możliwość oddzielnego badania każdej powierzchni granicznej za pomocą metody pompowania ładunku.

The influence of body and gate-oxide thickness on charge pumping current in double-gate MOS structures is analyzed to find out whether it is possible to perform charge-pumping studies of each interface separately.