Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: charakterystyka widmowa fotodetektora

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wpływ wysokiej temperatury na przebieg charakterystyk widmowych detektorów

100%

Ćwirko R. , Ćwirko J.

2010

tom Vol. 51, nr 10

70-73

Detektory UV, VIS i NIR są używane w pracach badawczych, przemyśle i aplikacjach wojskowych. Prezentowany w artykule system badawczy jest przeznaczony głównie do wysokotemperaturowych pomiarów charakterystyk widmowych detektorów w zakresach UV, VIS i NIR. System został opracowany w Wojskowej Akademii Technicznej. W artykule przedstawiono wyniki zależności charakterystyk widmowych od temperatury dla detektorów wykrywających zakres UV i wykonanych z Si i 4H-SiC.

UV, VIS i NIR detectors are used in scientific research and industrial and military applications. Measurement system used for spectral characteristic high-temperature measurements of UV, VIS and NIR is presented in the paper. The system was developed in the Military University of Technology (MUT). We present the results of a comprehensive study of the temperature dependences of the spectral characteristics for ultraviolet detectors based on Si and 4H-SiC structures. Measurement can be carried out in temperature range - from ambient temperature to 200°C.

System do pomiarów charakterystyk widmowych detektorów promieniowania optycznego w szerokim zakresie temperatury

67%

Ćwirko R. , Ćwirko J.

tom Vol. 58, nr 2

407-417

W artykule przedstawiono zaprojektowany i wykonany w Wojskowej Akademii Technicznej (WAT) system do pomiarów charakterystyk widmowych detektorów promieniowania optycznego UV, VIS i IR w szerokim zakresie temperatury od 10 K do 450 K. System pomiarowy umożliwia także badanie wpływu temperatury na charakterystyki szumowe detektorów.

The paper presents an integrated system, developed at the Military University of Technology (MUT), used for measurements of spectral characteristic of UV, VIS, and IR detectors. The setup provides also the possibility of noise measurements in a wide temperature range - from 10 K to 450 K.