Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  built-in self-test
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
|
|
tom Vol. 48, nr 9
12-17
PL
Zaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje metoda. Zwrócono uwagę na jej relewantne cechy diagnostyczne, które umożliwiają zgrubną lokalizację uszkodzeń na podstawie nachylenia zboczy charakterystyk amplitudowo-częstotliwościowych.
EN
A novel approach to fault-oriented testing and diagnosis of fully differential circuits is proposed. It consists of excitation of the circuit under test by commonmode voltage using an extra input pin and measurement of output differential voltage. It is shown that network function, used as a vehicle in testing, is well suited for fault detection and have also some diagnostic property. The observation was made that the slopes of its magnitude responses are the diagnostically relevant features. The method was verified on the example of testing the 6-th order band-pass filter.
2
Content available remote CAD package for designing of self-testable VLSI circuits
100%
|
|
tom Vol. 46, nr 4
514-523
EN
The paper presents a modern CAD package, which aims designers in designing and verification of self-testable VLSI digital circuits.
|
|
tom Vol. 16
51--57
EN
The problem of reliability of medical electronic systems (EMD) controlled by a digital subsystem is discussed. The environmental security of EMD results from conformance to standards applying to design, manufacture, testing and implementation (in the USA, Department of Heath & Human Services, Food and Drug Administration and Quality System Regulation QSR [6]). These standards describe the whole life cycle of a device and apply both to hardware and software. However, it is impossible to eliminate completely all failures, faults and defects; some of them could have catastrophic effects to the environment. This is why digital circuit tests are of utmost importance to ensure reliability of digital systems, thus also proper diagnostics and care of the patient's health and life. The researches on design of more effective digital circuit self-testing and minimizing them are of particular significance in such important applications as medical procedures that use EMD.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.