Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  X-ray radiation
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
|
2006
|
tom nr 3
133-141
PL
W artykule przedstawiono rozwiązania zespołów funkcjonalnych komory próżniowej, umożliwiąjace realizację złożonych procesów badawczych i technologicznych, którym towarzyszy emisja promieniowania rentgenowskiego, oraz sposoby zapobiegania emisji szkodliwego promieniowania do otoczenia. Zaprezentowano szczególne warunki pracy tych zespołów oraz przykładowe konstrukcje opracowane, wykonane i wdrożone w Instytucie Technologii Eksploatacji - PIB.
EN
The paper presents design of functional units of the test chamber, protecting from X-ray radiation. The units make it possible to safely perform complex research and technological processes inside, which are a source of X-ray radiation. Particular attention has been put in the paper to operating conditions of these units and examples of designs elaborated, manufactured and implemented at ITeE-PIB.
PL
Opisano wyniki eksperymentalne otrzymane w trakcie pomiarów emisji promieniowania rentgenowskiego oraz strumieni jonów w koaksjalnym akceleratorze IPD plazmy impulsowej. Wykazano istnienie zsynchronizowanych w czasie wiązek jonowych i emisji rentgenowskiej, świadczących o występowaniu zjawiska wielokrotnego zaciskania się sznura plazmy.
EN
Experimental results obtained for IPD coaxial accelerator of impulse plasma are presented. Existence of synchronized X-ray emissions and ion beams has been proved. These results are evidence of repeated pinching of plasma column.
3
Content available remote Analiza ilościowa składu pierwiastkowego na mikroanalizatorze rentgenowskim
100%
PL
W referacie przedstawiono metody analizy ilościowej składu pierwiastkowego na mikroanalizatorze rentgenowskim. Omówiono zalety i wady stosowanych w Zakładzie Tribologii metod mikroanalizy. Przedstawiono wyniki badań przeprowadzonych na mikroanalizatorze Voyager 3050 firmy Noran Instruments z zastosowaniem procedur "wzorcowych" i "bezwzorcowych".
EN
The authors presents methods of X-ray quantitative analysis of elemental composition using energy dispersive spectrometer Voyager 3050 (Noran Instruments-USA). Two methods of quantitative analysis, i.e. standard and standardless were employed and the results are compared. Both virtues and drawbacks of the methods are pointed out.
PL
W artykule przedstawiono możliwości wykorzystania radiologicznej tomografii komputerowej w zakresie defektoskopii układów izolacyjnych. Na przykładzie izolatorów wykonanych z różnych materiałów dielektrycznych stałych pokazano typowe zastosowania tej techniki m. in. do oceny jednorodności i jakości struktury układu izolacyjnego oraz oceny i lokalizacji przyczyn jej uszkodzenia.
EN
The article presents the possibility of using radiological computed tomography in the field of insulation system defectoscopy. On the example of insulators made of different dielectric materials it was shown a typical application of this technique, among others to assess the uniformity and quality of the insulation system structure and evaluation and location of the cause of its damage.
5
Content available remote Multilayer optics for XUV spectral region: technology fabrication and applications
67%
EN
We present research investigations in the field of multilayer optics in X-ray and extreme ultra-violet ranges (XUV), aimed at the development of optical elements for applications in experiments in physics and in scientific instrumentation. We discuss normal incidence multilayer optics in the spectral region of “water window”, multilayer optics for collimation and focusing of hard X-ray, multilayer dispersing elements for X-ray spectroscopy of high-temperature plasma, multilayer dispersing elements for analysis of low Z-elements. Our research pays special attention to optimization of multilayer optics for projection EUV-lithography (ψ-13nm) and short period multilayer optics.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.