Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: RAM testing

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Universal Address Sequence Generator for Memory Built-in Self-test

100%

Mrozek I. , Shevchenko N. A. , Yarmolik V. N.

2022

tom Vol. 188 nr 1

41--61

This paper presents the universal address sequence generator (UASG) for memory built-in-self-test. The studies are based on the proposed universal method for generating address sequences with the desired properties for multirun march memory tests. As a mathematical model, a modification of the recursive relation for quasi-random sequence generation is used. For this model, a structural diagram of the hardware implementation is given, of which the basis is a storage device for storing so-called direction numbers of the generation matrix. The form of the generation matrix determines the basic properties of the generated address sequences. The proposed UASG generates a wide spectrum of different address sequences, including the standard ones, such as linear, address complement, gray code, worst-case gate delay, 2i, next address, and pseudorandom. Examples of the use of the proposed methods are considered. The result of the practical implementation of the UASG is presented, and the main characteristics are evaluated.

Generowanie optymalnych wektorów testowych pamięci RAM

88%

Mrozek I. , Yarmolik V.

2011

tom nr 6

Efektywne wektory testowe i sposoby ich generowania odgrywają znaczącą rolę w testowaniu zarówno oprogramowania jak i sprzętu. Jednym z najtańszych podejść do problemu generowania wektorów testowych jest podejście oparte o wektory losowe. Obecnie w literaturze zaproponowanych zostało wiele nowych metod znacząco poprawiających efektywność testowania losowego należących do grupy kontrolowanego testowania losowego. W podejściu tym wybrane parametry tworzonych wektorów są z góry ustalane. W artykule zaproponowana zostanie nowa metoda generowania wektorów testowych. W proponowanym podejściu jako funkcja ich dopasowania użyta zostanie Maksymalizacja Minimalnej Odległości Hamminga, w odróżnieniu do standardowej odległości Hamminga używanej w podejściu znanym z literatury. Pozwoli to na wygenerowanie optymalnych wektorów testowych, których efektywność sprawdzona zostanie w odniesieniu do uszkodzeń PSF pamięci RAM.

Efficient test vectors and methods of their generation play crucial role in both hardware and software testing. Random testing is a low cost method that can be applied to a wide range of testing problems. Recently, a number of novel techniques, include Antirandom Testing strategies, have been developed to increase the effectiveness of random testing. In this paper, we propose a new algorithm for antirandom test generation. As the fitness function we use Maximal Minimal Hamming Distance (MMHD) rather than standard Hamming distance as is used in the classical approach. This approach allows us to generate optimal test vectors for RAM testing.

Analysis of multibackground memory testing techniques

75%

Mrozek I.

2010

tom Vol. 20, no 1

191-205

March tests are widely used in the process of RAM testing. This family of tests is very efficient in the case of simple faults such as stuck-at or transition faults. In the case of a complex fault model-such as pattern sensitive faults-their efficiency is not sufficient. Therefore we have to use other techniques to increase fault coverage for complex faults. Multibackground memory testing is one of such techniques. In this case a selected March test is run many times. Each time it is run with new initial conditions. One of the conditions which we can change is the initial memory background. In this paper we compare the efficiency of multibackground tests based on four different algorithms of background generation.