Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

1 2007

1 Barałkiewicz D.

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: ILCs

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zasady metrologii w chemii jako narzędzia poprawy jakości wyników pomiarów

100%

Barałkiewicz D.

2007

tom R.12, NR 1-2

57--60

W ciągu ostatnich lat podjęte zostały różnorodne inicjatywy zarówno na poziomie współpracy międzynarodowej, jak i pomiędzy różnymi branżami, związane z uznawalnością wyników pomiarów. Początkowo [podejmowane w tym kierunku działania to przede wszystkim wprowadzanie do laboratoriów różnych systemów zarządzania f jakością oraz akredytacji. Przekonano się jednak, że wszystkie te działania powinny być wspomagane znajomością zasad prowadzenia pomiarów, czyli zasad metrologii w odniesieniu nie tylko do pomiarów fizycznych, ale również do pomiarów i chemicznych. W artykule przedstawiono pięć modułów związanych z metrologią chemiczną: spójność pomiarów chemicznych, walidacja procedur analitycznych, oszacowanie niepewności wyników, zastosowanie certyfikowanych materiałów odniesienia i porównań laboratoryjnych.

Metrology in chemistry is based on the assumption that chemical analysis covers sample preparation and measurements themselves. Chemical aspects include, eg., sample stability, homogeneity, cross-contamination and cross-interference. Ali of these contribute to the measurement uncertainty. Therefore, it is important to introduce metrological principles to all chemists who deal with such measurements and in particular, to link these principles directly with the concept of uncertainty of measurement results. Five modules (traceability in chemical measurement, uncertainty of measurement results validation of measurement procedures, the use CRM and interlaboratory comparisions) of focusing on various aspects o metrology are described preparation.