Sputter deposited (Ni80Fe20/Au/Co/Au)N multilayers characterized by alternating easy-plane (Permalloy) and perpendicular (cobalt) anisotropy were investigated. Such films can be used as GMR sensors with linear R(H) dependence in a broad range of magnetic fields. The influence of NiFe, Au, Co layers thickness and repetition number N on GMR effect is discussed. We optimized the multilayer parameters for the application purposes.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.