Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Poprawa skuteczności wykrywania uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych

100%

Kuczyński A. , Ossowski M.

tom Vol. 48, nr 11

108-110

Zaprezentowano sposoby poprawy selektywności metody wykrywania uszkodzeń katastroficznych w układach analogowych, polegającej na analizie czasowo-częstotliościowej prądu zasilania w stanie nieustalonym. Zaproponowano i zweryfikowano metodę optymalizacji (GA) parametrów transformacji falkowych, obejmującą dobór skali i kształtu falki. Do detekcji błędu zaproponowano współczynnik, który uwzględnia tolerancję elementów układu.

A wavelet transform based dynamic supply current analysis technique for detecting catastrophic faults in analog circuits is investigated in the paper (IDD). Wavelet transform, having the property of resolving events in both time and frequency domain simultaneously, preserve higher fault detection sensitivity than time-domain or Fourier methods. Some methods for improving this sensitivity are proposed and verified. Genetic algorithms were used to optimize a special goal function enabling us to choose a type and parameters of continuous wavelet transform (CWT).

Detekcja i lokalizacja uszkodzeń układów analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów

100%

Ossowski M. , Kuczyński A.

2009

tom R. 85, nr 11

188-191

W artykule omówiono zastosowanie algorytmów bazujących na analizie odpowiedzi czasowej prądu zasilania do detekcji i lokalizacji uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych. Zaprezentowano prosty algorytm wykorzystujący procedury ewolucyjne do wyznaczaniu zaakresu zmienności sygnałów. Zamieszczono przykład detekcji i lokalizacji uszkodzeń układu analogowego z uwzględnieniem tolerancji.

Fault detection and localization algorithms, based on supply current transient analysis, are described in the paper. A new approach to tolerance regions calculation using genetic algorithms is presented. Numerical example illustrating fault detection and localization with tolerance is briefly discussed.

Analog circuits diagnosis using discrete wavelet transform of supply current

100%

Kuczyński A. , Ossowski M.

2009

tom Vol. 16, nr 1

77-84

A discrete wavelet transform based dynamic supply current analysis technique for detecting the catastrophic faults in analog circuits containing transistor is investigated in the paper. Some considerations due to a problem of fault localization using multiresolution approximation and the illustrative numerical example are presented.