Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

1 Archives of Metallurgy and Materials

1 2016

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

X-Ray Topography of the Subsurface Crystal Layers in the Skew Asymmetric Reflection Geometry

100%

Świątek Z. , Fodchuk I.

Archives of Metallurgy and Materials

2016

tom Vol. 61, iss. 4

1931--1938

The technique of X ray topography with the asymmetric reflection geometry of X-ray diffraction presented in this paper as useful tool for structural characterization of materials, particularly, epitaxial thin films and semiconductor multi-layered crystal systems used for the optoelectronic devices. New possibilities of this technique for a layer-by-layer visualization of structural changes in the subsurface crystal layers are demonstrated for semiconductors after various types of surface treatment, such as chemical etching, laser irradiation and ion implantation.