Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 8

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
|
|
tom Vol. 48, nr 9
12-17
PL
Zaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje metoda. Zwrócono uwagę na jej relewantne cechy diagnostyczne, które umożliwiają zgrubną lokalizację uszkodzeń na podstawie nachylenia zboczy charakterystyk amplitudowo-częstotliwościowych.
EN
A novel approach to fault-oriented testing and diagnosis of fully differential circuits is proposed. It consists of excitation of the circuit under test by commonmode voltage using an extra input pin and measurement of output differential voltage. It is shown that network function, used as a vehicle in testing, is well suited for fault detection and have also some diagnostic property. The observation was made that the slopes of its magnitude responses are the diagnostically relevant features. The method was verified on the example of testing the 6-th order band-pass filter.
|
|
tom Vol. 43, nr 6
34-37
PL
W pracy dokonano przeglądu technik realizacji testerów wbudowanych (BISTów) dla układów analogowych i mieszanych sygnałowo. Omówiono koncepcję źródeł sygnałów testujących opartą na modulacji Σ∆, testowanie za pomocą technik CPS, histogramową metodę analizy odpowiedzi przetwornika A/C, wykorzystanie sumy kontrolnej w macierzach równania stanu i oscylacyjne metody testowania.
EN
The paper presents a survey of recent works focused on techniques that have been proposed for making analog and mixed-signal circuits self-testable. Several Techniques for implementing Built-In Self-Test schemes: Σ∆ based signal generation, DSP - based testing, histogram testing of A/Ds, continous checksum method and oscillation test methods are described.
|
|
tom T. 8
685-692
PL
Zaproponowano oszczędne i nieinwazyjne rozwiązanie testera wbudowanego BIST dla w pełni różnicowej części analogowej układu mieszanego sygnałowo. Wymienione cechy testera osiągnięto wykorzystując właściwości nowo opracowanych wzmacniaczy operacyjnych z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego oraz modyfikując dotychczas stosowaną metodę testowania.
EN
The economical and nonintrusive solution of BIST for mixed-signal circuits, whose analog parts are fully differential, is proposed. Mentioned advantages have been obtained owing to features of the novel operational amplifiers with internal common-mode feedback and by modification of the previous testing method for fully differential circuits.
4
Content available remote A neural network based system for soft fault diagnosis in electronic circuits
63%
EN
The paper considers the architecture and the main steps of development of a neural network based system for diagnosis of soft faults in analog electronic circuits. The definition of faults of interest, selection of an optimal set of measurements, feature extraction, the construction of the artificial neural network, training and testing the network, are considered. A fault dictionary method was implemented in the system. Experimental results are presented on an example of diagnosis of a 6-th order bandpass filter. The measuring part of the system performs input-output measurements in the frequency domain with the aid of a HP 4192 Transmitance Analyzer.
PL
W artykule przedstawiono system do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w układach elektronicznych. W systemie zaimplementowano słownikową metodę lokalizacji uszkodzeń, bazującą na pomiarach w dziedzinie częstotliwości przeprowadzanych za pomocą analizatora transmitancji HP4192A. Rozważono główne etapy projektowania systemu: definiowanie modelu uszkodzeń, wybór optymaInych częstotliwości pomiarowych, ekstrakcję cech diagnostycznych, konstrukcje sieci neuronowej oraz trening i testowanie sieci. Główną cechą prezentowanego podejścia jest zastosowanie słownikowej metody lokalizacji uszkodzeń do uszkodzeń parametrycznych. Rozpatrywane są pojedyncze uszkodzenia parametryczne elementów dyskretnych. Przedstawiono metodę optymalizacji częstotliwości pomiarowych na podstawie analizy wrażliwościowej charakterystyki amplitudowej względem wartości parametrów elementów. Selekcja częstotliwości bazuje na ocenie ekstremaInych wartości charakterystyk wrażliwościowych. Przestrzeń danych pomiarowych zredukowano do czterech wymiarów za pomocą analizy składowych głównych (PCA). Przekształcenie PCA ortogonalizuje elementy oryginaInych wektorów danych, porządkuje według wielkości ich wariancji i eliminuje składowe, które mają najmniejszy wkład w wyjaśnienie zmienności danych. Dane transformowane do przestrzeni o zredukowanej liczbie wymiarów służą jako dane wejściowe dla klasyfikatora. Do klasyfikacji sygnatur zastosowano sieć neuronową typu GRNN z radialnymi funkcjami bazowymi w warstwie ukrytej. Klasteryzację danych przeprowadzono za pomocą algorytmu Fuzzy C-Mean. Centra radiaInych funkcji bazowych warstwy ukrytej nałożono na centroidy poszczególnych klastrów. Zadaniem warstwy wyjściowej jest przyporządkowanie neuronów radiaInych do poszczegóInych klas uszkodzeń. Sieć dokonuje klasyfikacji sygnatury uszkodzenia otrzymywanej z pomiarów poprzez wskazanie najbardziej prawdopodobnego uszkodzenia. Zastosowany typ sieci wytwarza znormalizowane odpowiedzi umożliwiające wyznaczenie poziomu niepewności wyniku diagnozy.
PL
Na tle tendencji rozwojowych w dziedzinie testowania pakietów elektronicznych przedstawiono system pomiarowo-diagnostyczny kolejnej generacji, opracowany w Politechnice Gdańskiej w ramach projektu badawczego KBN. Charakterystyczną cechą systemu, stanowiącąnowość w odniesieniu do współczesnych systemów tego typu, jest wyposażenie w bibliotekę analityczną metod diagnostycznych, umożliwiających lokalizację uszkodzonych elementów niedostepnych zaciskowo. Nową cechą jest też przystosowanie systemu do diagnostyki układów cyfrowych za pomocą magistrali diagnostycznej IEEE 1149,1. Omówiono architekturę systemu, ciekawsze rozwiązania układowe oraz nowe metody analityczne.
EN
A measuring system of new generation for testing and diagnosis of electronic PCBs is presented. The system has been designed in Technical University of Gdansk as research project of KBN. Main feature of the system is library of analytical diagnostic methods making possible testing and fault location of the circuits with limited accessibility to internal nodes. The paper describes system architecture and some solution of measuring modules. Then, two diagnostic methods: the complementary signals method and the circuit-analytical approach method, based on verification concept, are discussed. For nonlinear circuits, association of piecewise linearization of circuit component characteristics and linear verification is used. The system has also ability to test digital circuits using IEEE 1149,1 diagnostic bus.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.