Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Dochodzenie szkoły do nowoczesności jest procesem długotrwałym. Potrzebne do tego jest zaangażowanie i współdziałanie wszystkich, którym zależy na wysokiej jakości edukacji. W rozdziale przedstawiono znaczenie znaku Szkoła z klasą w aspekcie doskonalenia jakości edukacji.
2
100%
EN
The work presents an ASIC (Application Specific Integrated Circuit) CMOS cell for IDD current monitoring in VLSI circuits. The cell is to be used in estimation of dissipated power in high density power microstructures. It can be also useful in fault diagnosis in integrated VLSI circuits. The cell is intended to be placed along with a microstructure requiring cooling on the same piece of silicon and its main objective is to control an active heat sink. A design of the IDD current sensor, a physical layout as well as results of simulations are presented. Finally, the post-fabrication testing measurements are included.
PL
Artykuł przedstawia multimedialny bezprzewodowy system alarmowy przesyłający wiadomości graficzne MMS z wykorzystaniem modemu GSM/GPRS. Przedstawiono środowisko sprzętowo-programowe niezbędne do tworzenia wiadomości MMS.
EN
Paper presents a Multimedia Wireless Alarm System transmitting MMS picture messaging using GSM/GPRS modem. Hardware and software environment required to complete the creation of MMS picture message has been described.
PL
W artykule przedstawiono automatyczne stanowisko pomiarowe pozwalające na pomiary pojemności złączowej półprzewodnikowych złącz p-n. System pomiarowy został zbudowany w oparciu o standardowe przyrządy laboratoryjne uzupełnione o dedykowany generator pomiarowy, którego projekt i realizacja została opisana. W celu konfiguracji systemu, sterowania pomiarami i archiwizacji danych napisano specjalną aplikację w środowisku LabVIEW.
EN
The paper presents automatic measuring system allowing to measure of junction capacitance of semiconductor p-n junction. The system was build based on standard laboratory equipment supplemented with dedicated measuring generator, which design and realization was described. For the system configuration, controlling of measurements and data acquisition and saving special application in LabVIEW environment was made.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.