The objective of this study was to determine the degree of chemical contamination of light soil used as a disposal site for storing motor vehicles unfit for operation. Dismantled motor vehicles and parts of motor vehicles were stored in sector A, while worn-out, inoperable motor vehicles were stored in sector B. Heavy metal content was 5.3-fold higher in soil from sector A than in soil from sector B. The greatest differences were observed between the two sectors with respect to the content of copper, lead, chromium and zinc, while the slightest - with regard to the content of nickel, cadmium and mercury. Taking into account the total content of heavy metals, the investigated soils may be considered chemically degraded.
PL
Badania miały na celu określenie skażeń chemicznych gleby lekkiej, na której składowano pojazdy silnikowe wycofane z eksploatacji. W sektorze A składowano zdemontowane pojazdy i ich części, a w sektorze B gromadzono pojazdy wycofane eksploatacji. W glebie sektora A sumaryczna zawartość metali ciężkich była 5,3 razy większa niż w glebie sektora B. Szczególnie duże różnice stwierdzono w zawartości miedzi, ołowiu, chromu i cynku, a najmniejsze niklu, kadmu i rtęci. Ogólna zawartość metali ciężkich sprawia, że gleby te należy zaliczyć do zdegradowanych chemicznie.
Opisano aparaturę służącą do badania chropowatości powierzchni działającą na następujących zasadach: rozpraszania światła (skaterometrii metodą TIS), interferometrii światła białego oraz mikroskopii sił atomowych. Głównym celem prac było porównanie wyników pomiarów parametru chropowatości Sq powierzchni gładkich uzyskanych za pomocą nowego układu TIS, tj. integratora fotodiodowego z wynikami otrzymanymi przy użyciu wymienionych przyrządów. Badania przeprowadzono przy wykorzystaniu próbek wykonanych z płytek krzemowych, zwierciadeł optycznych, płytek wzorcowych i innych płytek metalowych. Próbki charakteryzowały się wartościami chropowatości Sq z zakresu od ok. 0,5 do ok. 25 nm. Badania wykazały dużą zgodność wyników pomiaru chropowatości uzyskanych za pomocą integratora i wymienionej aparatury.
EN
Instruments destined for testing smooth surface parameters, based on the following principles: scatterometry (TIS), white light interferometry and atomic force microscopy have been described in the paper. The main purpose of the investigations was comparing measurement results obtained using a novel TIS device, e.g., the photodiode intergrator with results gained from other apparatus. Comparisons have been done by measuring roughness of the following samples: silicon wafers, optical mirrors, size blocks and metal plates. They are characterized by the r.m.s. roughness Sq of 0.5...25 nm. The investigations prove a good agreement of measurement results obtained using the photodiode integrator and other instruments.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.