Pb0,5Sn1,5S2 thin films were prepared by hot-wall vacuum deposition (HWVD) and effect of substrate temperature on structural and surface morphological properties was thoroughly investigated by means of X-ray diffraction, scanning electron microscopy, atomic force microscopy and water contact angle techniques, respectively. It is seen that contact angle measurements on (Pb,Sn)S2 films can be used to assess the quality of these materials prior to device fabrication
PL
Cienkie warstwy Pb0,5Sn1,5S2 wytworzono metodą gorącej ścianki. Metodami dyfrakcji promieni rentgenowskich, skaningowej mikroskopii elektronowej, mikroskopii sił atomowych i kąta zwilżania zbadano wpływ temperatury podłoża na strukturę i morfologię cienkich warstw. Ustalono, że badania kąta zwilżalności mogą być przydatne do określenia jakości warstw wykorzystywanych w ogniwach słonecznych.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.