Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

System do pomiarów ostrzowych fotodiod lawinowych TeOFiL 2001

100%

Wójcik J. , Zając J. , Zaremba G.

tom Vol. 43, nr 12

5-8

Omówiono specyficzne właściwości fotodiod lawinowych, stosowane procedury ich pomiarów i unikalne rozwiązania zastosowane w oprogramowaniu systemu.

Features of the automatic system dedicated to testing semiconductor wafers containing avalanche photodiodes are presented. The paper contains descriptions of specific features of such photodiodes and used test methods. Main features of measurement devices used in the system and unique solutions applied in control software are described.

System kontroli parametrów elektrofizycznych krzemowych warstw epitaksjalnych i dyfuzyjnych

75%

Machalica P. , Zając J. , Mocny W. , Młynarski B. , Wójcik J. , Zaremba G. , Niemiec M.

2001

tom nr 146

239-243

System kontroli parametrów elektrycznych krzemowych warstw epitaksjalnych i dyfuzyjnych

75%

Machalica P. , Zając J. , Mocny W. , Młynarski B. , Wójcik J. , Zaremba G. , Niemiec M.

tom Vol. 43, nr 12

12-15

System stanowi zbiór niezależnych stanowisk badawczych do pomiarów charakterystyk C-V i C-t oraz rezystancji rozpływu (spreading resistance). Stanowiska pracują w sieci informatyczno-pomiarowej zbudowanej z użyciem koncentratora HUB.

In paper, a quality measurement system for semiconductor wafers also epitaxial and diffusion layers, is presented. The system consist several investigation stands for measurement C-V and C-t characteristic as well spreading resistance. The stands works in the measurement network basis on HUB concentrator.