The Direct Sparse Odometry (DSO) technique is a new form of visual odometry that makes use of a direct and sparse structure to achieve precision. In this project, the objective is to apply the DSO algorithm on the Unmanned Aerial Vehicle (UAV) application. The main studies in this project are focusing on the experimentation for DSO algorithm parameter setting. Another objective is to evaluate the parameter and performance of DSO algorithm. The data evaluation was based on three different environments in the university campus. In this project, the Realsense D435i camera was applied to the RDDRONE-FMUK66 with interface of the Raspberry Pi 3 B+ model to capture the data. This project managed to analyze suitable point values on the active points and gradient parameter setting. The same parameter configuration which concerns on point density and keyframe management have been experimented in the three environment. From this project it is concluded that DSO on UAV can be improved in order to gain a stable data processing to be applied in the algorithm.
PL
Technika Direct Sparse Odometry (DSO) to nowa forma wizualnej odometrii, która wykorzystuje bezpośrednią i rzadką strukturę w celu osiągnięcia precyzji. W tym projekcie celem jest zastosowanie algorytmu DSO w aplikacji Bezzałogowego Statku Powietrznego (UAV). Główne badania w tym projekcie koncentrują się na eksperymentach dotyczących ustawiania parametrów algorytmu DSO. Kolejnym celem jest ocena parametrów i wydajności algorytmu DSO. Ocena danych została oparta na trzech różnych środowiskach w kampusie uniwersyteckim. W tym projekcie kamera Realsense D435i została zastosowana do RDDRONE-FMUK66 z interfejsem modelu Raspberry Pi 3 B+ do przechwytywania danych. W ramach tego projektu udało się przeanalizować odpowiednie wartości punktów w aktywnych punktach i ustawienia parametrów gradientu. Ta sama konfiguracja parametrów, która dotyczy gęstości punktów i zarządzania klatkami kluczowymi, została przetestowana w trzech środowiskach. Z tego projektu wynika, że DSO na UAV można udoskonalić w celu uzyskania stabilnego przetwarzania danych do zastosowania w algorytmie.
2
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
There are many methods to deposit a photoanode layer of DSSC, such as doctor blade, sputtering and spin coating. However, there are limitations for each of the methods. Electrochemical deposition is a three-electrode, cost-effective method for depositing metal, metallic oxide, and composites. The three-electrode method can also control the coating thickness and chemical composition by varying the deposition potential/current. Zinc Oxide (ZnO) is an n-type semiconductor with a wide bandgap energy value lying in the range of 3.37 eV. In this work, ZnO layers were deposited using an electrodeposition method by varying the time and molarity of the solution. The potential difference used in this experiment was - 0.61 V based on the cyclic voltammetry and chronoamperometry using a potentiostat and NOVA software. The qualities of the deposited ZnO have been studied using Scanning Electron Microscopy (SEM) and Ultraviolet-Visible Spectroscopy (UV-Vis) to determine their characterizations.
PL
Istnieje wiele metod osadzania warstwy fotoanody DSSC, takich jak rakla, napylanie katodowe i powlekanie wirowe. Istnieją jednak ograniczenia dla każdej z metod. Osadzanie elektrochemiczne to opłacalna metoda osadzania metali, tlenków metali i kompozytów za pomocą trzech elektrod. Metoda trójelektrodowa może również kontrolować grubość powłoki i skład chemiczny poprzez zmianę potencjału/prądu osadzania. Tlenek cynku (ZnO) to półprzewodnik typu n o wartości energetycznej szerokiego pasma wzbronionego mieszczącej się w przedziale 3,37 eV. W tej pracy warstwy ZnO osadzano metodą osadzania elektrolitycznego, zmieniając czas i molarność roztworu. Różnica potencjałów zastosowana w tym eksperymencie wynosiła -0,61 V w oparciu o cykliczną woltamperometrię i chronoamperometrię z użyciem potencjostatu i oprogramowania NOVA. Właściwości osadzonego ZnO badano za pomocą skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM) i spektroskopii w zakresie widzialnym i ultrafioletowym (UV-Vis) w celu określenia ich charakterystyki.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.