Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego

100%

Czaja Z. , Załęski D.

2006

tom T. 9

23-30

W artykule przedstawiono nową metodę diagnostyki sieci analogowych we wbudowanych mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami wyposażonymi w procesor decyzyjny bazujący na logice rozmytej. Metoda składa się z części przed-testowej tworzenia słownika uszkodzeń zawierającego zbiory rozmyte i reguły, części pomiarowej, w której dokonuje się pomiaru modułu i fazy funkcji układowej części analogowej mikrosystemu, oraz z procedury detekcji i lokalizacji uszkodzeń wykonywanej przez procesor decyzyjny. Pomiar i procedura diagnostyczna są realizowane wyłącznie przez mikrokontroler zamontowany w systemie, z wykorzystaniem jego zasobów sprzętowych i mocy obliczeniowej. Zaletą metody jest możliwość nie tylko detekcji uszkodzenia parametrycznego sieci analogowej, ale również lokalizacja pojedynczych uszkodzeń parametrycznych przy założeniu tolerancji elementów nieuszkodzonych.

The paper presents the new diagnostic method of analog parts in mixed-signal embedded microsystems controlled by microcontroller with biult-in hardware fuzzy logic decision proccesor. The method consists of three stages. In the first pre-test stage the fault dictionary that includes a group of membership functions and rules of fuzzy faults models is created. In the second stage the measurement of modulus and phase of tested circuit transfer function is done. In the last stage the procedure of fault delection and localisation is executed. The diagnostic method is additionally implemented in microcontroller that is already mounted and controls an embedded system. The method has two main advantages. Firstly, it enables detection of parametric faults of analog parts and also localisation of single parametric faults with tolerance of non-faulty elements taken into account.

The automatic method for recognition of RTS noise in noise signals

80%

Stawarz-Graczyk B. , Załęski D. , Konczakowska A.

2007

tom Vol. 14, nr 2

219-228

In the paper the automatic and universal system for identi.cation of Random Telegraph Signal (RTS) noise as a non-Gaussian component of the inherent noise signal of semiconductor devices is presented. The system for data acquisition and processing is described. Histograms of the instantaneous values of the noise signals are calculated as the basis for analysis of the noise signal to determine the number of local maxima of histograms and to evaluate the number of RTS noise levels. The presented system does not need supervisor control of identi.cation results.