Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

1

Efektywne wykorzystanie odnawialnych źródeł energii pracujących na sieć wydzieloną

100%

Herlender K. , Zielony M.

|

tom R. 49, nr 8

35-39

PL

Systemy wykorzystujące energię odnawialną są w większości systemami generacji rozproszonej. Generacja rozproszona może mieć pozytywny wpływ na niezawodność zasilania przez szybszą odbudowę systemu po awariach, może poprawić niezawodność u odbiorcy oraz redukować głębokość zapadów napięcia. Jednym z przykładów generacji rozproszonej są systemy fotowoltaiczne. Systemy te mogą być przyłączane zarówno do systemu elektroenergetycznego, jak i mogą pracować na sieć wydzieloną. Zaprojektowanie efektywnych systemów pracujących na sieć wydzieloną nie jest zagadnieniem prostym. W artykule omówiono powyższe zagadnienia oraz wyciągnięto odpowiednie wnioski.

EN

The systems which use renewable energy are mostly distributed generation systems. Distributed generation may have positive influence on the reliability of energy supply due to faster recovery of the system after breakdowns. Additionally, it may improve the reliability at the user's and reduce the depths of voltage dips. One of the examples of distributed generation are photovoltaic systems. These systems can be connected to an electric power supply system and can work for a private network too. Efficient design of operating systems for a private network is not an easy task. In the article the above mentioned issues were presented and suitable conclusions were drawn.

2

Logistyka oraz służba medyczno-sanitarna na szczeblu batalionu zmechanizowanego bundeswehry

100%

Poluchowicz W. , Zielony M.

|

1998

|

tom Nr 23

123--130

3

Cyfrowe sterowanie pola skanowania w mikroskopie bliskich oddziaływań

100%

Zielony M. , Gotszalk T.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2010

|

tom R. 86, nr 11a

180-183

PL

Artykuł przedstawia algorytm i układ sterowania polem skanowania mikroskopu bliskich oddziaływań w uniwersalnym sterowniku SPM zbudowanym na bazie procesora sygnałowego TigerSharc TS101 firmy Analog Devices. Opisane zostały ograniczenia w bezpośrednim cyfrowym generowaniu pola skanowania, rozwiązanie tego problemu oraz rozszerzenie możliwości o zadawania kata pola skanowania.

EN

This papper shows an algorithm and appliance to scanning field controll in universal Scannig Probe Microscopy driver, based on signal processor TigerSharc TS101 made by Analog Devices. We character restrictions in direct digital generate of scanning field and solution for solving this problem. We also describe ability of setting scanning field angle.

4

Prywatyzacja logistyki bundeswehry. Próbny program pilotażowy

100%

Zielony M. , Poluchowicz W.

|

1998

|

tom Nr 23

197--204

5

Wytwarzanie mikro- i nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań

80%

Kolanek K. , Gotszalk T. , Zielony M. , Grabiec P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2008

|

tom Vol. 49, nr 5

9-11

PL

Postęp w dziedzinie wytwarzania urządzeń półprzewodnikowych i układów scalonych wynika głównie z procesu miniaturyzacji. W wyniku miniaturyzacji wzrasta wydajność oraz zmniejsza się pobór mocy zaawansowanych przyrządów elektronicznych. W chwili obecnej technologia fotolitografii jest podstawowym narzędziem pozwalającym wytwarzać zawansowane przyrządy półprzewodnikowe. Tworzenie przyrządów o rozmiarach poniżej 100 nm powoduje znaczne problemy technologiczne. Nanolitografia, technika mikroskopii bliskich oddziaływań, wykorzystująca proces lokalnej anodyzacji powierzchni, jest zaawansowaną techniką pozwalającą wytworzac wzory na powierzchni półprzewodnika. Ze względu na precyzyjną kontrolę procesu lokalna anodyzacja jest wszechstronną techniką pozwalającą wytwarzać wzory nanostruktur. Łącząc technikę nanolitografii z procesem mokrego trawienia można wytworzyć nanostruktury o szerokości linii poniżej 100 nm. Przedstawiona technologia może w niedalekiej przyszłości posłużyć do wytwarzania przyrządów elektroniki kwantowej.

EN

Rapid progress in fabrication of the semiconductor devices and integrated circuits is mainly due to miniaturization. As a result of the miniaturization process improved performance and reduced power consumption is introduced to high- end electronic devices. At the present state mainly photolithography tools are used for developing electronic devices. Fabrication of nanostructures below 100 nm regime by conventional photolithographic techniques leads to technological limitations. Nanolithography based on local anodic oxidation by atomic force microscopy is a promising technique for patterning nanostructures on silicon substrates. Due to its versatility and precise control, local anodic oxidation is suited for preparing well defined nanostructures. By the combination of nanolithography and wet etching, nanostructures with a line width below 100 nm may be fabricated. Presented technology could be used to fabricate quantum devices in the near future.

6

Możliwości wykorzystania towarowego tramwaju w logistyce miejskiej (na przykładzie m.st. Warszawy)

80%

Płaczek J. , Górski P. , Zielony M.

Gospodarka Materiałowa i Logistyka

|

2016

|

tom nr 10

180--200

PL

W kilku miastach Europy od dłuższego czasu wykorzystywany z powodzeniem jest towarowy tramwaj w logistyce miejskiej. Jest to specjalistyczny tramwaj, który przewozi w aglomeracji różnego typu towary. Przeważnie są to: części zamienne do samochodów, podzespoły do maszyn i urządzeń, wyroby elektroniczne czy też drobne towary. Asortyment wynika z bieżącego zapotrzebowania poszczególnych firm będących na trasie trakcji tramwajów w mieście. Tego typu dostawy dokonywane są przez całą dobę i dostosowane do potrzeb klientów i firm. Bardzo dobrze to funkcjonuje w przypadku rozlokowania magazynów czy też hal produkcyjnych w różnych dzielnicach miasta, tam gdzie sieć linii tramwajowej jest dostępna (przeważnie od pętli do pętli). Biorąc za podstawę funkcjonowanie tych przewozów, twierdzimy że istnieje możliwość wprowadzenia takich rozwiązań w naszym kraju dla wybranych miast i linii tramwajowych. Przykładowo dla m.st. Warszawy jest to w pełni możliwe między np. pętlami tramwajowymi: Żerań, Służew Przemysłowy, Ochota, Annopol, Koło, Huta, Boernerowo, Szmulkowizna. Wprowadzenie jeszcze jednego środka transportowego w logistyce miejskiej ograniczy narastającą kongestię w tym mieście. Prace w tym zakresie powinny postępować przy współudziale władz miasta, Spółki Tramwajów Warszawskich, Stowarzyszenia Kupców Warszawskich i przedstawicieli zakładów pracy przy istniejących pętlach tramwajowych.

EN

For a long time the tram cargo is being used successfully in several European cities. It is a special tram, which carries the agglomeration of various types of goods. Mostly they are: car parts, components for machinery and equipment, electronic goods, or small goods. The Range of goods due to the current demand of individual companies that are on the route of trams. These types of supplies are carried out around the clock and tailored to the needs of customers and businesses. It works very well for the deployment of warehouses or production facilities in different districts of the city, where the tram network is available. Taking as a basis for the functioning of these operations, saying that it is possible to introduce these solutions in our country for selected cities and tram lines. For example, for Warsaw, it is fully possible between eg. Tram lines: Zeran, Służew Industrial, Ochota, Annopol, Circle, Huta, Boernerowo, Szmulkowizna. The introduction of an additional type of transport in urban logistics reduce the growing congestion in the city. The works in this context, should proceed in cooperation with the city authorities, such as the Warsaw Tram Company, the Association of Merchants of Warsaw and representatives of workplaces with the existing tram lines.

7

Fabrication of micro- and nanostructures by scanning probe microscopy. Local anodic oxidation

80%

Kolanek K. , Gotszalk T. , Zielony M. , Grabiec P.

Materials Science Poland

|

2008

|

tom Vol. 26, No. 2

271--278

EN

Atomic force microscopy (AFM) is a high resolution imaging technique in which a cantilever with a very sharp tip is scanned over a sample surface. AFM technique can also be used to fabricate micro- and nanostructures on metallic or semiconductor surfaces. Nanolithography by local anodic oxidation or by noncontact atomic force microscopy (NC-AFM) has strong potential to pattern the surface with a well defined feature size at the nanometer regime. In the paper, the growth rate of nanostructures produced by local anodic oxidation process has been investigated. Mechanisms of nanooxidation have been studied and dependences of its rate and resolution on the voltage applied between the tip and a sample surface, tip speed, and ambient humidity.

8

Uniwersalny sterownik na bazie mikrokontrolera ATmega128 dla mikroskopii bliskich oddziaływań

71%

Garczyński K. , Zielony M. , Zawierucha P. , Kopiec D. , Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2010

|

tom Vol. 51, nr 9

69-72

PL

Artykuł przedstawia konstrukcję i zastosowanie tanich i uniwersalnych sterowników dla systemów pomiarowych w mikroskopii bliskich oddziaływań. Głównym założeniem projektu jest minimalizacja kosztów budowy takiego systemu poprzez zastąpienie głównej jednostki sterującej, zbudowanej na procesorze sygnałowym, mikrokontrolerem jednoukładowym oraz logiką programowalną. Przedstawione zostaną algorytmy komunikacji między magistralą sterującą i komponentami systemu (karty ADC, DAC) oraz wyniki pomiarów.

EN

This paper shows a construction of universal and Iow cost control drivers for measure systems using in atomic force and scanning microscopy. Main point of this project is to minimize cost of this system and replace main central processing unit, expensive signal processor, by 8bits microcontroller and programmable logic device. l'd like to show algorithms describing Communications with PC, system components like Analog-Digital and Digital-Analog cards and present some measure effects.

9

Układ lock-in z cyfrową syntezą częstotliwości w technice FPGA

61%

Szecówka P. M. , Zając M. , Gotszalk T. P. , Zielony M. , Jóźwiak G. , Stania R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

tom Vol. 52, nr 10

120-122

PL

Opisano własną konstrukcję komputerowo sterowanego układu lock-in. Kluczowe elementy - detektor fazy i generator częstotliwości odniesienia wykonano w technice cyfrowej, w oparciu o język VHDL i programowalne układy logiczne FPGA. Przebiegi sinusoidalne generowano za pomocą rozwinięcia w szereg Maclaurina. Pokazano, że przy wydłużonym czasie zbierania próbek i uśrednianiu wyników można przeprowadzić analizę rezonatora 32 kHz pomimo zastosowania przetworników A/C i C/A o niewiele większych częstotliwościach próbkowania.

EN

In-house developed, computer-controlled lock-in system is presented. Crucial elements - phase detector and direct digital synthesizer were based on digital technique (VHDL and FPGA). Sine signals are generated in real time by Maclaurin series approximation. It was shown that for extended time of samples collection, resonant frequency of 32 kHz oscillator may be measured, in spite of applying A/D and D/A converter working with sampling rate only silghtly exceeding the measured frequency.

10

Mikroskopia sił atomowych z zastosowaniem matryc mikrodźwigni sprężystych

51%

Zawierucha P. , Zielony M. , Kopiec D. , Woszczyna M. , Sarov Y. , Frank A. , Ivanov T. , Zöllner J. P. , Rangelow I. W. , Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2010

|

tom Vol. 51, nr 6

72-75

PL

Mikroskopia sił atomowych (AFM) [1] jest jedną z podstawowych metod badania powierzchni. Pomimo bardzo szerokiego zastosowania w pomiarach laboratoryjnych w dalszym ciągu nie jest wykorzystywana w przemyśle. Związane jest to przede wszystkim z ograniczeń w szybkości wykonywania pojedynczego pomiaru. Jednym ze sposobów przyspieszenia pomiarów AFM jest zastosowanie zamiast pojedynczej sondy pomiarowej matrycy mikrodźwigni [2]. Jednoczesny pomiar wieloma dźwigniami pozwoli na relatywne skrócenie czasu pomiaru. Rozwiązanie takie pozwoli zachować wszystkie zalety pomiarów AFM jednocześnie umożliwiając wykonać pomiar powierzchni o rozmiarach nawet 10x10 mm². W pracy zaprezentowana zostanie dźwignia o zupełnie nowej konstrukcji, przeznaczona do zastosowań wielodźwigniowych. Prezentowana sonda pomiarowa przeznaczona jest do pracy w technice rezonansowej tapping-mode. Do przeprowadzenia eksperymentów konieczne było zbudowanie stanowiska pomiarowego. W pracy zaprezentowane zostanie stanowisko do pomiaru za pomocą matrycy 32 dźwigni. Wynikiem przeprowadzonych eksperymentów jest pomiar topografii powierzchni. W artykule przedstawiony zostanie obraz topografii struktury testowej wykonany 4 dźwigniami jednocześnie.

EN

Atomic force microscopy (AFM) is one of basic surface measurements methods. It is a uniquely powerful tool for analysis and modification of surface but this method is not used in technological application yet. Current AFM methods are limited to single probes with very slow processing rates and very small scan area. One of the speed-up methods of AFM measurement is the replacement of single a cantilevers by cantilever array [2]. A measurement taken by several probes simultaneously will significantly speed up the measurement process. The proposed solution allow to make a huge area scan (up to 10 x 10 mm²) and will keep all unique abilities of AFM method. In this article, we present new AFM cantilever (PRONANO) for multiprobe application. The new probe has integrated a thermal band actuator and a piezoresistive deflection detector. In this paper, we present an experimental system for topography measurement by 31 cantilevers. This home made multiprobe AFM microscope is designated for measurement in dynamic contact mode (tapping-mode). In this article, there are presented surface measurements made by 4 cantilevers simultaneously.

11

Wytwarzanie przyrządów elektroniki kwantowej metodami mikroskopii bliskich oddziaływań

51%

Kolanek K. , Gotszalk T. , Woszczyna M. , Masalska A. , Zawierucha P. , Mulak P. , Szeloch R. , Zielony M. , Janus P. , Grabiec P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2006

|

tom Vol. 47, nr 5

27-29

PL

Ciągły rozwój technologii półprzewodnikowej powoduje wzrost skali integracji, szybkości działania układów elektronicznych oraz zmniejszenie pobieranej przez nie mocy. Obecny stan technologii opiera się głównie na technice fotolitografii i osiąga kres swoich możliwości zmniejszania charakterystycznych wymiarów przyrządów półprzewodnikowych. Przewiduje się, że fotolitografia nie zapewni tworzenia przyrządów półprzewodnikowych o rozmiarach charakterystycznych mniejszych od 30 nm. Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do lokalnej anodyzacji powierzchni otwiera nowe perspektywy wykonywania wzorów o wymiarach mniejszych od 30 nm. Zaletą tej techniki jest możliwość zarówno wytwarzania, jak i jednoczesnej diagnostyki wygenerowanych wzorów. Przedstawiono wyniki eksperymentów prowadzonych w laboratorium mikroskopii bliskich oddziaływań, nanostruktur i nanomiernictwa WEMiF z Politechniki Wrocławskiej.

EN

Rapid progress in semiconductor technology leads to greater scale of integration, improved speed and a reduced amount of the needed power of the electronic devices. At the present time mainly photolithography tools are used for developing electronic devices. Now the tools are working on the edge of the performance. Scanning probe microscopy is one of the methods which may be applied not only to surface visualization but also to modification. In this paper we describe local anodization process, which may be applied to create patterns on semiconductor and metallic surfaces. Control software of the atomic force microscope transfers designed patterns on the surface. We will present our research conducted in Laboratory of scanning probe microscopy, nanostructures and nanometrology in the Faculty of Microsystems Electronics and Photonics at Wroclaw University of Technology.

12

32-kanałowy cyfrowy regulator PID na bazie układu FPGA do zastosowań w mikroskopii sił atomowych

51%

Nowacki Z. , Zawierucha P. , Serafińczuk J. , Woszczyna M. , Sawicki P. , Zielony M. , Szecówka P. , Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2010

|

tom Vol. 51, nr 2

109-113

PL

W artykule została przedstawiona konstrukcja i zasada działania wielokanałowego cyfrowego regulatora PID skonstruowanego dla mikroskopu sił atomowych korzystającego z matrycy sond pomiarowych. Nasze rozwiązanie zostało zrealizowane w oparciu o układ FPGA. Dzięki temu uzyskano zwartą konstrukcję, jednak pozwalającą na elastyczną zmianę parametrów regulatorów PID oraz ilości kanałów.

EN

In this article a digital multichannel PID controller for atomic force microscope with an array of probes is presented. Our design is based on FPGA. In this case, we developed compact device but it allows to modify PlD controllers parameters and amout of channels.

13

Zastosowanie interferomerii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych

41%

Mulak P. , Gotszalk T. , Kolanek K. , Woszczyna M. , Masalska A. , Zawierucha P. , Wielgoszewski G. , Zielony M. , Sankowska A. , Szeloch R. , Janus P. , Grabiec P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2006

|

tom Vol. 47, nr 5

57-59

PL

Podstawowym problemem metrologicznym mikroskopii sił atomowych jest pomiar oddziaływań dynamicznych występujących między mikroostrzem a powierzchnią. W praktyce laboratoryjnej stosowane są zwykle układy natężeniowych detektorów laserowych, które umożliwiają jedynie detekcję (rozumianą w sensie jakościowej oceny ugięcia dźwigni). W laboratorium mikroskopii bliskich oddziaływań, nanostruktur i nanomiernictwa Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki opracowaliśmy światłowodowy interferometr pracujący w konfiguracji Fabry-Perota, za pomocą którego jesteśmy w stanie przeprowadzić pomiary właściwości metrologicznych układów piezoelektrycznych stosowanych w mikroskopii bliskich oddziaływań oraz dokonać skalowania czujników bliskiego pola ze zintegrowanymi detektorami wychylenia końcówki. Przedmiotem naszych prac była analiza właściwości piezoelektrycznych rezonatorów kwarcowych i elektrostatycznych aktuatorów wychylenia. Prezentowane przez nas metody i techniki pomiarowe pozwalają na pomiar ugięcia (wychylenia) dźwigni kamertonu piezoelektrycznego z rozdzielczością 0,1 nm w paśmie 1 kHz w zakresie częstotliwości do 100 kHz.

EN

One of the fundamental metrological issues in scanning probe microscopy is the measurement of nearfield interactions between the microprobe and the surface. In most experiments the detection of the cantilever deflection is performed using so called Position Sensitive Detectors. In this setup the measurements of forces acting at the microtip require additional tedious and very time consuming calibration. Therefore in the laboratory of scanning probe microscopy, nanostructure and nanometrology at the Faculty of Microsystem Electronics and Photonics of the Wroclaw University of Technology we developed fiber optical Fabry-Perot inteferometer which can be used to determine the metrological parameters of the nearfield sensors. In this work we will present the results of piezoelectrical tuning fork measurements, which enable deflection detection of the tuning fork prongs with the resolution of 0,1 nm in the bandwidth of 1 kHz in the frequency range up to 100 kHz. We will also report in the calibration of the microsystem electrostatic deflection actuator, which can be used to maintain the distance between the microprobe and sample.