Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

1

Elektronowy rezonans paramagnetyczny nanokompozytów (CoFeZr)x(Al2O3)(100-x) wytwarzanych rozpylaniem jonowym

100%

Zhukowski P. , Kołtunowicz T. N. , Sidorenko J. , Fedotova J.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2012

|

tom R. 88, nr 7a

324-326

PL

W pracy przedstawiono wyniki badań metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego (EPR) właściwości magnetycznych nanokompozytów (CoFeZr)x(Al2O3)(100-x) wytworzonych rozpylaniem jonowym w atmosferze argonu (próbki beztlenowe) oraz argonu i tlenu (próbki tlenowe). Ustalono, że w badanych materiałach występuje pojedyncza linia EPR, parametry której Hmin, Hmax, Hg oraz czynnik g wykazują silną zależność kątową. Jest ona związana ze zmianą czynnika rozmagnesowania z kątem ustawienia próbki w stosunku do wektora natężenia pola magnetycznego. Wektor namagnesowania w próbkach beztlenowych jest większy, niż w próbkach tlenowych co jest związane z udziałem części atomów metali w związkach z tlenem. Wygrzewanie termiczne do Ta = 450°C powoduje wzrost wektora namagnesowania i czynnika g.

EN

The paper presents results of studies with the method of electron paramagnetic resonance (EPR) on properties of magnetic nanocomposites (CoFeZr)x(Al2O3)(100-x) produced by ion sputtering in an argon atmosphere (anaerobic samples) or argon and oxygen atmosphere (aerobic samples). It was found that there is a single EPR line in the material studied which parameters like Hmin, Hmax, Hg and a factor g show a strong angular dependence. It is connected with the change of the demagnetization factor according to the sample set angle relative to the vector of magnetic field strength. Magnetization vector in the anaerobic samples is larger than in aerobic samples that is connected with the participation of the certain metal atoms in compounds with oxygen. Thermal annealing up to the value of Ta = 450°C causes increase of the magnetization vector and the factor g.

2

Conductivity of Cd1-xFexTe semiconductors at alternating current and temperatures lower than the room temperature

88%

Zhukowski P. , Kołtunowicz T. , Węgierek P. , Partyka J. , Sidorenko J.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2010

|

tom R. 86, nr 7

75-77

EN

The paper presents results of conductivity measurements performed at alternating current for semiconducting compounds Cd1-xFexTe within the frequency range of and in the temperature area of below the room temperature. S-shaped frequency dependences have been observed within the concentration range of x < 0.03. Along with the temperature growth the segment of [sigma] increase gets shifted to the area of higher frequencies. A model that describes experimental dependences has been proposed and it takes into account the time of electron "settlement¨ after its hop from the impurity ground state as well as the probability of its return to the potential well wherefrom it has hopped.

PL

W pracy przedstawiono rezultaty pomiarów przewodności przy prądzie przemiennym związków półprzewodnikowych Cd1-xFexTe (0.01 . . . 0.05) w zakresie częstotliwości (50 Hz .f . 1 .Hz) i w obszarze temperatur poniżej temperatury pokojowej. Zaobserwowano S – kształtne częstotliwościowe zależności w zakresie koncentracji . . 0.03. Wraz ze wzrostem temperatury odcinek wzrostu . przesuwa się w obszar wyższych częstotliwości. Zaproponowano model, opisujący eksperymentalne zależności, uwzględniający czas „osiadania” elektronu po przeskoku ze stanu podstawowego domieszki i prawdopodobieństwo jego powrotu do studni potencjału, z której on wykonał skok.

3

Magnetic properties of nanocomposites (CoFeZr)x(Al2O3)1-x

88%

Zhukowski P. , Sidorenko J. , Kołtunowicz T. , Fedotova J. , Larkin A.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2010

|

tom R. 86, nr 7

296-298

EN

The results of the ESR study of nanocomposite films, prepared by sputtering of complex alloy target by Ar ions, are presented. Strong angular dependences of maximum H max and minimum H min positions in ESR lines and also g-factor were revealed. ESR measurements allowed to determine magnetization values in the (CoFeZr)x(Al2O3)1-x samples with metallic phase concentration x from 31 at.% to 47 at.%. It was ascertained that growth of metallic phase particles in the film bulk occurs due to diffusion of metallic atoms, defragmented in dielectric matrix during the sputtering procedure, under isochronous (15 min over 25°?) annealing of the samples at 400oC.

PL

W artykule omówiono wyniki badań metodą elektronowego rezonansu paramagnetycznego nanokompozytów (CoFeZr)x(Al2O3)1-x wytworzonych rozpylaniem magnetronowym tarcz ze stopu i dielektryka jonami Ar+. Zaobserwowano zależności kątowe położenia maksimum linii H max, minimum linii H min, szerokości linii [delta]H i wartości czynnika g. Określono wartości namagnesowania dla próbek z koncentracjami fazy metalicznej x od 31% do 47%. Ustalono, że podczas wygrzewania próbek w temperaturach do 400°? zachodzi dyfuzja atomów metali z fazy dielektrycznej i wzrost objętości fazy metalicznej. W artykule omowiono wyniki bada. metod. elektronowego rezonansu paramagnetycznego nanokompozytow (CoFeZr)x(Al2O3)1-x wytworzonych rozpylaniem magnetronowym tarcz ze stopu „R„€0,45F„u0,45Zr0,1 i dielektryka „@l2„O3 jonami „@r+. Zaobserwowano zale.no.ci k.towe po.o.enia maksimum linii „Nmax, minimum linii „Nmin, szeroko.ci linii �˘„N i warto.ci czynnika g. Okre.lono warto.ci namagnesowania dla probek z koncentracjami fazy metalicznej x od 31% do 47%. Ustalono, .e podczas wygrzewania probek w temperaturach do 400�‹„R zachodzi dyfuzja atomow metali z fazy dielektrycznej i wzrost obj.to.ci fazy metalicznej.