PL
 |
EN
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 22

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 2 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 2 next fast forward last
1
Content available remote Zwiększenie czułości systemu do pomiaru szumów metodą korelacyjnej analizy widmowej
100%
Hasse L.
|
2002
|
tom Nr 18
77--84
PL
Przedstawiono dwukanałowy system do pomiaru szumów o bardzo niskim poziomie metodą bezpośrednią, W celu poprawy dokładności pomiaru koherencji między mierzonymi w obu kanałach za pomocą wzmacniaczy transimpedancyjnych prądami szumów proponowany jest dodatkowy etap pomiaru z wykorzystaniem przedwzmacniacza napięciowego oraz włączenie w kanale wejściowym pomiędzy mierzonym czwórnikiem a wzmacniaczem transimpedancyjnym wzmacniacza buforowego o specyficznych właściwościach szumowych, co poprawia stosunek sygnał/szum o około 10 dB. Pomiar sygnałów szumowych o ekstremalnie niskich poziomach (poniżej poziomu szumów własnych przedwzmacniacza wejściowego) umożliwia zastosowanie korelacyjnej metody pomiaru każdego z prądu szumów z wykorzystaniem procedury dodawania oraz odejmowania sygnałów z dwóch torów tego samego kanału pomiarowego w dziedzinie czasu. Przeanalizowano czynniki wpływające na błąd estymacji widma wzajemnego niezbędnego do wyznaczenia funkcji koherencji.
EN
A two-channel system for very low-level noise measurements by the direct method has been described. To improve an accuracy of the coherence measurement between noise currents in two channels measured by means of transimpedance amplifiers an additional step of measurement with application of low-noise voltage preamplifier is proposed. Another method rely on inserting into the input channel between the measured twoport and the transimpedance amplifier a buffer amplifier having peculiar noise properties. It improves a signal to noise ratio about 10 dB. The application of cross-correlation measurement technique for each of noise current using the procedure of adding and subtracting of signals from two chains of the same measurement channel in the time domain enables the measurement of extremely low noise signals (below the background noise of input preamplifier). Factors influencing on the error of cross-spectrum estimation needed for coherence function calculation have been analysed.
2
Novel applications of noise measurements in technology and sensing
63%
Hasse L. , Smulko J.
|
|
tom Vol. 48, nr 9
9-12
EN
Noise measurements are promising tool to provide information and nondestructive characterization of electronic components and other objects (noise spectroscopy). Noise data can improve selectivity and sensibility of gas detection (electronic nose) or monitor corrosion phenomena. As the main diagnostic tool it is proposed to use low frequency current and voltage fluctuations and their statistical properties. Some selected results of noise measurements have been discussed in the paper due to their practical importance.
PL
Pomiary szumów są źródłem informacji oraz rodzajem badań nieniszczących dotyczących jakości elementów elektronicznych oraz innych materiałów. Mogą one poprawić selektywność i czułość wykrywania gazów oraz pozwalają na monitorowanie zjawiska korozji. W tym celu wyznacza się właściwości statystyczne fluktuacji prądu lub napięcia w zakresie małych częstotliwości. W artykule przedstawiono i przedyskutowano wybrane, ze względu na ich znaczenie w praktyce, wyniki pomiarów sygnałów losowych.
3
Content available Badania symulacyjne dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych
63%
Hasse L. , Piasecki J.
|
2003
|
tom Nr 19
41--47
PL
Przedstawiono metodę pomiaru dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych z zastosowaniem wzorcowego sygnału szumowego. Modyfikacja metody polega na dodatkowym ograniczeniu szerokości pasma stymulującego sygnału szumowego. Przeprowadzono badania symulacyjne z wykorzystaniem kilku modeli badanego układu cyfrowego, w tym modelu detektora progowego oraz szybkiego komparatora z histerezą, mające na celu określanie odporności na zakłócenia układów logicznych z zastosowaniem szumu gaussowskiego jako sygnału stymulującego o różnej szerokości pasma. Uzyskane wyniki potwierdziły tezę, że im węższe jest zadane pasmo sygnału szumowego, tym wyższy poziom mocy widmowej jest niezbędny do zakłócającej zmiany stanu logicznego. Jeśli szerokość pasma szumu jest znaczna, wówczas poziom gęstości widmowej mocy, niezbędny do zmiany stanu badanego układu, jest relatywnie niski.
EN
The method of dynamic noise immunity measurement of digital circuits using a standard noise signal has been presented. The modification of the method rely on the additional bandwidth limitation of the stimulus noise signal. The simulations have been carried out using several models of tested digital devices including the threshold detector and the fast comparator with histeresis models aimed on noise immunity of digital circuits investigation with the application of Gaussian noise with different bandwidth as a stimuli. The achieved results confirmed the thesis that the narrower assigned bandwidth of the stimulating noise signal the higher power spectral density level is necessary to change the logic level of the device. For the considerable white noise bandwidth the level of noise power spectral density required for changing of logic state is relatively low.
4
Content available remote Quality assessment of high voltage varistors by third harmonic index
63%
Hasse L. , Smulko J.
|
2008
|
tom Vol. 15, nr 1
23-31
EN
High voltage varistors that consist mainly of grained ZnO have to be tested before assembling into a surge arrester. The existing methods demand a usage of high voltages and intensive currents that is inconvenient, destructive and needs extensive power consumption. Additionally, these methods require metallization of the prepared varistor structures that increases costs. We propose another method of varistor quality assessments by a third harmonic index measurement at relatively low voltage range. In this experimental study it has been proved that the proposed procedure can be applied successfully for preliminary selection of the tested structures.
5
Content available System sterowania czujnikami z wykorzystaniem sieci bezprzewodowej w standardzie IEEE 802.15.4
63%
Parol B. , Hasse L.
|
2010
|
tom Nr 28
119-122
PL
Bezprzewodowe sieci sensorowe najczęściej wykorzystywane są w systemach pomiarowo-kontrolnych. Przy realizacji systemu wykorzystano mikrokontroler z rdzeniem Cortex-M3 jako kontroler sieci oraz przekaźniki ZigBee pracujące przy częstotliwości 2,4 GHz. System wymagał stworzenia modułów komunikacyjnych łączących kontroler i przekaźnik radiowy za pomocą interfejsu SPI oraz zaimplementowania stosu odpowiadającego potrzebom aplikacji. Opracowano oprogramowanie sterujące bezprzewodowo pracą urządzeń automatyki za pomocą mikrokontrolera STM32 w oparciu o standard IEEE 802.15.4 oraz kompleksowe, wielofunkcyjne sterowanie systemem z komputera PC.
EN
Wireless sensor networks are the most often used in measurement-control systems. A microcontroller with Cortex-CPU as a network controller and ZigBee transmitter working at 2.4 GHz have been applied in the presented system. Communication modules connecting the controller and the radio transmitter through SPI interface and a stack implementation related to requirements of the application had to been created. A software wirelessly controlling of automatics devices by means of the STM32 microcontroller in the IEEE 802.15.4 standard and the multifunctional controlling of the whole system from a PC have been prepared.
6
Content available remote Pomiary wyładowań niezupełnych w kondensatorach foliowych
51%
Jóźwiak K. , Olesz M. , Hasse L. , Smulko J.
|
|
tom R. 86, nr 9
55-58
PL
Występowanie zjawisk wyładowań niezupełnych w dielektrykach kondensatorów foliowych wpływa na skrócenie ich czasu życia. Stąd, pomiary parametrów wyładowań niezupełnych i ich analiza mogą się przyczynić do poprawy jakości produkowanych kondensatorów. Stosowane metody pomiarowe wyładowań niezupełnych bazują na efektach, jakie te wyładowania wywołują w kondensatorach. Zjawiska wyładowań powodują przepływy prądów, co umożliwia pomiary metodami elektrycznymi. Wyładowania niezupełne są także źródłem emisji akustycznej – fal ultradźwiękowych, typowo do częstotliwości kilkuset kHz. Analiza wyników pomiarów elektrycznych i akustycznych wyładowań niezupełnych w kondensatorach i ich związków z innymi parametrami kondensatorów może potencjalnie pozwolić na oszacowanie czasu życia oraz jakości danego typu kondensatorów. Z podanych względów warto przybliżyć problemy pomiarów oraz charakteryzowania wyładowań niezupełnych, co jest głównym zagadnieniem poruszanym w pracy. Poza układami do pomiarów wyładowań niezupełnych, przedstawiono przykłady degradacji struktury kondensatorów w wyniku występowania wyładowań.
EN
Partial discharges within the foil-based capacitors limit their lifetime. Thus, measurements of partial discharges parameters and their analysis can improve quality of the fabricated capacitors. The applied measurement methods utilize effects caused by partial discharges in capacitors. The discharges cause current flows that can be observed by electrical methods. Partial discharges generate acoustic emission signals (acoustic waves up to a few hundreds of kHz) as well. Analysis of the measurement results of partial discharges using electrical and acoustical methods and their correlation with other electrical parameters can probably allow to estimate their lifetime and quality. Because of these reasons it is valuable to raise an issue of partial discharges measurement and analysis problems. Together with the measurement systems various types of the induced degradations of capacitors were enclosed.
7
Content available Spektroskopia elektro-ultradźwiękowa warystorów wysokonapięciowych
51%
Hasse L. , Spiralski L. , Sedlakowa V. , Sikula J.
|
|
tom R. 54, nr 3
99-101
PL
Przedstawiono nową nieniszczącą metodę wykrywania defektów dwójników. W metodzie wykorzystuje się wzajemne oddziaływanie fononów ultradźwiękowych i elektronów wskutek istnienia defektu powodującego nieliniowości. Testowana próbka jest pobudzana przez sygnały harmoniczne: elektryczny i ultradźwiękowy o różnych częstotliwościach. Wskutek nieliniowości powodowanej przez defekt struktury próbki powstaje nowy sygnał harmoniczny o częstotliwości różnicowej sygnałów stymulujących. Opisano skrótowo system spektroskopii elektroultradźwiękowej. Zaproponowana metoda została zweryfikowana przy pomiarach warysto-rów wysokonapięciowych. Podano zależność amplitudy sygnału intermodulacyjnego w funkcji poziomu sygnałów pobudzających.
EN
The paper describes a new non-destructive testing method for conducting solids with defects or cracks. The method is based on nonlinear effects created by a harmonic motion of atoms subjected to ultrasonic vibrations. Physical principle follows from ultrasonic phonons interaction with electrons on defect caused nonlinearity. Tested sample is excited by harmonic electrical and ultrasonic signals with different frequencies. On the defect caused nonlinearity a new harmonic signal is created with frequency given by subtraction of excited frequencies. The system for electro-ultrasonic spectroscopy measurements has been briefly described. The method was verified for high-voltage varistors measurements. The dependence of an amplitude of intermodulation component versus levels of ultrasonic and electrical excitations has been determined experimentally.
8
Podstawowe pojęcia z zakresu kompatybilności elektromagnetycznej, szumów i zakłóceń
51%
Hasse L. , Kołodziejski J. , Spiralski L.
|
|
tom nr 12
12-14
9
Content available Pomiar i obróbka sygnałów emisji akustycznej w diagnostyce obiektów
51%
Hasse L. , Spiralski L. , Sikula J.
|
|
tom Nr 20
77--84
PL
Praca zawiera skrótowy przegląd nieniszczących metod diagnostycznego badania obiektów, ukierunkowany na zastosowania analizy emisji akustycznej (AE) i elektromagnetycznej (EME) z uwypukleniem korzyści aplikacyjnych tych metod. Opisano eksperyment wskazujący na korelację między sygnałami AE i EME, co stwarza możliwość lokalizacji źródła sygnału emisji akustycznej w miejscu wystąpienia defektu. Rekonstrukcja zniekształconych i zaszumionych obrazów defektoskopowych wad wymaga stosowania wyspecjalizowanych metod przetwarzania sygnałów. Dotyczy to estymacji parametrów i charakterystyk niestacjonarnych sygnałów o charakterze impulsowym (m. in. czasów narastania, szerokości impulsów oraz ich energii). Przedstawiono narzędzia efektywnej analizy danych zarejestrowanych i zobrazowanych dzięki wykorzystaniu odpowiednich programów komputerowych. Ich zastosowanie w diagnostyce prowadzi do wyeliminowania elementów wadliwych zwiększając bezpieczeństwo i przedłużenie okresu eksploatacji badanych obiektów.
EN
A short review of non-destructive diagnostic testing methods has been concentrated on application of acoustic emission (AE) and electromagnetic emission (EME) analysis emphasizing advantages of their using. The experiment indicating on the correlation between AE and EME signals and enabling of AE signal source localization in a defect place was described. The simplified physical model of the phenomenon has been presented. A reconstruction of distorted and buried in noise images of defective faults requires an application of specialized method of signal processing. It concerns a parameter and characteristic of nonstationary pulse signals estimation (e.g. rise time, impulse width and energy). Tools of effective analysis of acquisited and represented data using appropriate software have been reported. Their application in diagnostics leads to elimination of faulty elements increasing safety and operation prolongation of tested objects.
10
Content available remote Procesory sygnałowe w laboratoriach cyfrowego przetwarzania sygnałów
51%
Cichosz J. , Hasse L. , Smulko J.
|
2002
|
tom Nr 18
19--26
PL
Przedstawiono problematykę ćwiczeń laboratoryjnych realizowanych przez studentów z zastosowaniem zestawów uruchomieniowych z procesorami sygnałowymi TMS320C5x, ADSP-2Ixx oraz TMDS320C6711 w ramach laboratoriów cyfrowego przetwarzania sygnałów. Z uwagi na stopień złożoności, jak i możliwości techniczne, najwięcej uwagi poświęcono zestawom zawierającym procesory sygnałowe TMS6711, oraz środowisku programistycznemu Code Composer Studio. Podano ogólnie charakterystykę i zakres opracowanych ćwiczeń laboratoryjnych.
EN
Topics for solving in the student labs of Digital Signal Processing by means of signal processors: TMS320C5x, ADSP-2Ixx and TMDS320006711 have been presented. The special attention has been paid on the boards with TMS6711 processors as the most advanced and having the widest range of possible applications. The programming environment Code Composer Studio v. 2.0 has been described as well as the general program of laboratory exercises.
11
Badanie emisji akustycznej kondensatorów foliowych przy napięciowym pobudzeniu impulsowym
51%
Jóźwiak K. , Hasse L. , Olesz M. , Smulko J.
|
|
tom T. 19
433-438
PL
Opisano metodę oceny jakości foliowych kondensatorów przeciwzakłóceniowych za pomocą badania ich drgań w zakresie ultradźwięków pod wpływem impulsowego sygnału pobudzającego. Indukowane drgania są źródłem informacji o jakości zwinięcia zastosowanej w kondensatorze folii oraz wykonanych kontaktach. Przedstawiono układ impulsowego pobudzenia kondensatora oraz system do pomiaru sygnału ultradźwiękowego. Uzyskane wyniki pomiarów dla grupy kondensatorów klasy Y2 o pojemności 27 nF skonfrontowano z wynikami pomiarów współczynnika trzeciej harmonicznej oraz pochodnej tego współczynnika w funkcji napięcia polaryzacji.
EN
The method of a foil capacitor for interference suppression quality evaluation by means of an ultrasonic emission signal analysis stimulated by an impulse signal has been described. Induced oscillations are a source of information about the quality of foil winding and prepared contacts. The circuit for the pulsed stimulation of a capacitor and the system for the ultrasonic signal measurement are presented. Achieved results for the batch of Y2 class capacitors with capacity of 27 nF were compared with the measurement results of third harmonic index and with derivative of this index as a function of biasing voltage.
12
Zakłócenia w układach cyfrowych : mechanizmy i metody pomiaru
51%
Hasse L. , Kołodziejski J. F. , Piasecki J. , Spiralski L.
|
2002
|
tom Vol. 43, nr 6
13-16
PL
Przedstawiono mechanizmy powstawania i sposoby pomiaru podatności układów cyfrowych na zakłócenia. Zaprezentowano metodę pomiaru dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych z zastosowaniem wzorcowego sygnału szumowego z możliwością ograniczenia szerokości pasma stymulującego sygnału szumowego. Opisano opracowane modele symulacyjne i przykładowe wyniki badań potwierdzające efektywność zaproponowanej metody.
EN
The mechanisms of noise origin and methods of noise susceptibility of digital circuits measurement have been described. The new method of dynamic noise immunity of digital circuits measurement using standard noise signal as a stimulus with a possibility of noise bandwidth filtering was proposed. Presented elaborated simulation models and results of measurement confirm the effectiveness of the proposed method.
13
Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools
51%
Chobola Z. , Růžička Z. , Hasse L.
|
2002
|
tom Vol. 43, nr 6
32-33
EN
The paper presents the results of DLTS measurements for 1mm 2-sized specimens which have been cut from silicon solar cells showing considerable inhomogeneity as detected by means of the LBIV method. Transport and noise characteristics hace been also measured for these specimens.
PL
W artykule przedstawiono wyniki pomiarów niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów defektowych (Deep Level Transient Spectroscopy - DLTS) dla próbek w wymiarach 1 mm 2 uzyskanych z krzemowych ogniw słonecznych. Ogniwa wykazywały znaczną niejednorodność, co stwierdzono za pomocą metody polegającej na wytwarzaniu napięcia wzbudzonego wiązką światła (Light Beam Induced Voltage - LBIV). Dla próbek tych zmierzono również charakterystyki statyczne oraz szumowe.
14
Content available Automated system for fluctuation enhanced gas sensing
51%
Trawka M. , Smulko J. , Hasse L.
|
|
tom Nr 40
133--136
EN
Resistance gas sensors exhibit random phenomena (resistance noise) which can be utilized to improve gas sensitivity and selectivity. That new emerging technique has to be investigated to recognize optimal parameters for gas detection. It means that a measurement system has to have ability of numerous parameters adjustment (e.g., sampling frequency, heater voltage, polarization current, voltage noise amplification). That fact induced design of a new setup which limits a number of external power sources and reduces time of gas sensors characterization. The newly prepared system comprises two digitally controlled voltage and current sources, and a control unit to select polarization current of the investigated gas sensor. The system is controlled by the dedicated PC software used for data acquisition and communication. The system allows characterizing of prototype gas sensors having a very high resistance, up to tens of M?. Additionally, the measured sensors can be irradiated by the UV diode to induce photocatalytic effect influencing their gas sensing properties. All these operation have been automated. An every action is automatically logged and state of the system is visualized using windows PC environment. Output files are batch-processed by means of commercial software, such as MATLAB®. Additionally, some exemplary results of recent experimental data for selected gas sensors, such as their noise spectra at various sensors temperatures has been presented.
PL
W rezystancyjnych czujnikach gazu występują zjawiska losowe (np. szumy rezystancji), które mogą być wykorzystane do poprawy czułości i selektywności detekcji gazu. Aplikacja tej stosunkowo nowej techniki wymaga przeprowadzenia badań w celu ustalenia optymalnych parametrów detekcji gazów, co oznacza, że system pomiarowy powinien posiadać możliwość zmiany szeregu parametrów (np. częstotliwości próbkowania, napięcia grzałki, prądu polaryzacji, wzmocnienia napięcia szumów). Implikowało to konieczność zaprojektowania systemu z ograniczoną liczbą zewnętrznych źródeł zasilania i minimalizacji czasu charakteryzowania czujników gazu. Zbudowany system zawiera dwa cyfrowo sterowane źródła prądu i napięcia oraz układ sterujący wyborem prądu polaryzacji badanego czujnika gazu. System jest sterowany z komputera PC za pomocą opracowanego, dedykowanego oprogramowania i umożliwia charakteryzowanie prototypowych czujników gazu o rezystancji aż do dziesiątek M?. Czujnik może być ponadto poddany promieniowaniu przez diodę UV w celu wywołania efektu fotokatalizy, co wpływa na czułość detekcji gazu. Wszystkie wymienione czynności zostały zautomatyzowane w jak największym stopniu. Wszystkie wykonywane operacje są automatycznie rejestrowane, a aktualny stan systemu jest wizualizowany w postaci graficznej na monitorze PC. Pliki wyjściowe są przetwarzane wsadowo przy wykorzystaniu komercyjnego software’u takiego jak MATLAB®. Ponadto, przedstawiono przykładowe wyniki pomiarów uzyskane przy wykorzystaniu zaprojektowanego automatycznego stanowiska pomiarowego.
15
Content available Zautomatyzowany pomiar wybranych parametrów urządzeń systemów komórkowych w standardzie E1
51%
Hasse L. , Nalik D. , Michalski J.
|
|
tom Nr 23
53-56
PL
Przedstawiono system pomiarowy wybranych parametrów urządzeń naziemnej infrastruktury systemów komórkowych pracujący w standardzie E1. System został zbudowany na bazie komputera PC wyposażonego w kartę standardu E1 i zawiera opracowane i zaimplementowane oprogramowanie. Badania eksperymentalne obejmowały weryfikację poprawności działania systemu pomiarowego. Przeprowadzono je testując wykorzystywane w systemie GSM radiolinie firmy NOKIA, umożliwiające bezprzewodowe przesyłanie danych cyfrowych. Zmierzono bitową stopę błędów transmisji w jednej szczelinie czasowej przy zastosowaniu kodowania Hamminga.
EN
The measurement of selected parameters of mobile cellular ground infrastructure working in the standard E1 have been presented. The system has been constructed on the basis on PC equipped with computer card of standard E1 controlled by the elaborated and implemented software. Experimental studies involved the verification of system functionality. They have been carried out using the NOKIA microwave radios in the GSM system enabling wireless data transmission. The bit error rate in the one timeslot using Hamming coding has been measured.
16
Spektroskopia szumowa. Cz. 1, System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych
51%
Chobola Z. , Hasse L. , Sikula J. , Spiralski L.
|
|
tom Vol. 45, nr 1
22-26
PL
Wyniki pomiarów szumów małoczęstotliwościowych różnych obiektów stanowią cenne narzędzie diagnostyki jakości tych obiektów. W pierwszej części pracy przedstawiono system umożliwiający przeprowadzenie takich pomiarów oraz problemy zastosowania tego rodzaju diagnostyki w wykrywaniu wad montażu przyrządów półprzewodnikowych.
EN
Results of low frequency noise measurements of different kind objects present a valuable diagnostic tool for their quality evaluation. In the first part of the paper the measurement system and problems of noise spectroscopy application in detection of packaging defects of semiconductor devices and in wafer level noise measurements in the probe system have been presented.
17
Spektroskopia szumowa. Cz. 2, Badania przyrządów półprzewodnikowych, szumy elektrochemiczne i emisja akustyczna w diagnostyce
51%
Chobola Z. , Hasse L. , Sikula J. , Spiralski L.
|
|
tom Vol. 45, nr 2
7-11
PL
Wyniki pomiarów szumów małoczęstotliwościowych różnych obiektów stanowią cenne narzędzie diagnostyki jakości tych obiektów. W drugiej części pracy przedstawiono wybrane metody i wyniki badań szumów małoczęstotliwościowych przyrządów półprzewodnikowych, w tym nieliniowości HEMT z GaAs, elementów mocy oraz ogniw słonecznych, a także wykorzystanie w diagnostyce szumów elektrochemicznych oraz emisji akustycznej.
EN
Results of low frequency noise measurements of different kind objects present a valuable diagnostic tool for their quality evaluation. In the second part of the paper the selected methods and results of low frequency noise measurements of semiconductor devices (nonlinearities of GaAs High Electron Mobility Transistors - HEMTs power semiconductors, solar cells) have been presented. Application of the electrochemical noise and the acoustic emission in diagnostic was described too.
18
Effect of illumination on noise of silicon solar cells
51%
Vanek J. , Chobola Z. , Hasse L.
|
|
tom Vol. 45, nr 5
16-17
PL
Przeprowadzono badania eksperymentalne charakterystyk stałoprądowych i właściwości szumowych krzemowych ogniw słonecznych spolaryzowanych w kierunku przewodzenia jak i zaporowym, zarówno bez oświetlenia jak i przy oświetleniu. Stwierdzono zmiany właściwości ogniw wskutek oświetlenia spowodowane modyfikacją rezystancji dynamicznej złącza PN oraz występowaniem składowych szumów 1/f i generacyjno-rekombinacyjnych.
EN
Transport and noise properties of silicon solar cells in darkness and under illumination have been studied. The measurements were carried out for both reverse and forward bias of the device. The changes in the sample behaviour are due to the variation of PN junction dynamic resistance and, also, the occurence of both 1/f and generation-recombination noise components.
19
Content available Analysis of nonlinear effects as a diagnostic tool
51%
Hasse L. , Šikula J. , Blaha M.
|
2006
|
tom Nr 22
63-71
EN
Methods of nonlinear effects analysis al the output signal of tested objects give the possibility of defects and damage examination in materials and electronic devices what is useful in reliability prediction. For passive elements a very effective tool exemplifies Third Harmonic Index (THI). The THI measurements for interference suppressor capacitors and its properties have been described in detail. The application of bispectrum in analysis of resistance fluctuations in gas sensors was briefly presented. Advantages of nonlinear spectroscopy in non-destructive testing of objects have also been pointed out.
PL
Metody analizy efektów nieliniowych nieliniowej analizy sygnałów na wyjściu testowanych obiektów umożliwiają badanie występowania defektów i uszkodzeń w materiałach i elementach elektronicznych, co jest niezbędne w predykcji niezawodności. W odniesieniu do elementów biernych bardzo skutecznym narzędziem okazuje się być wskaźnik trzeciej harmonicznej (THI -- Third Harmonic Index). W artykule bardziej szczegółowo opisano pomiary parametru THI i jego właściwości dla kondensatorów przeciwzakłóceniowych. Skrótowo przedstawiono zastosowanie bispektrum w analizie fluktuacji rezystancji czujników gazu. Wyszczególniono również zalety spektroskopii nieliniowej w badaniach nieniszczących obiektów.
20
Content available Komputerowa weryfikacja układów cyfrowyh CMOS utworzonych z podukładów zasilanych ze źródeł o różnych wartościach napięcia
45%
Szcześniak W. , Kozieł S. , Jendernalik W. , Hasse L. , Szcześniak P.
|
|
tom Nr 23
105-108
PL
W pracy zaprezentowano wyniki komputerowej weryfikacji cyfrowego układu CMOS utworzonego z klastrów Cn-1, Cn-2, …, Ci, … C0, z których każdy jest zasilany odpowiednio malejącymi wartościami napięć Vddn-1 > Vddn-2 > … > Vddi > … > Vdd0 . Zbiór klastrów {Ci} został utworzony przy pomocy algorytmu ECA (Evolutionary Clustering Algorithm) dla potrzeb redukcji mocy pobieranej ze źródła zasilającego. Otrzymane rozwiązanie charakteryzujące się zmniejszeniem zapotrzebowania na moc zasilającą nie powoduje pogorszenia przepustowości zaprojektowanego systemu cyfrowego CMOS.
EN
The paper presents results of a computer simulation of a CMOS digital circuit composed of Cn-1, Cn-2, …, Ci, … C0 clusters. The clusters are supplied with voltages Vddn-1 > Vddn-2 > … > Vddi > … > Vdd0, respectively. Set of clusters {Ci} was created with aid of ECA (Evolutionary Clustering Algorithm) for reduction of power dissipated. The obtained result enables for power reduction without deteriorating the throughput of the designed CMOS circuit, measured as system latency.
first rewind previous Strona / 2 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.