Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Fault modeling and analysis of short defects in CMOS based reversible circuits

100%

Amaricai A. , Boncalo O.

tom Vol. 1, nr 2

175-179

This paper presents a SPICE based analysis of reversible circuits affected by the short defects: the gate oxide defect and the source-drain defect. The simulations are performed using realistic transistor models (the BSIM4 model) and take into account the resistive nature of the gate oxide and the source drain shorts. We aim at determining dependence between the short's resistance and the output voltage. Furthermore, we analyze the timing characteristics of reversible circuits affected by such faults. The goal is to develop logic and delay fault models for CMOS based reversible gates. This way, Boolean test strategies and logic level fault tolerant mechanisms and strategies can be devised for reversible circuits.

Two phase reliability analysis of quantum circuits in a block based approach

100%

Boncalo O. , Amaricai A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2009

tom Vol. 50, nr 12

90-93

Simulating quantum circuits is a task that becomes prohibitive as their size grows. Therefore, reliability analysis using simulation is not feasible for complex quantum circuits. In this paper, we propose a two phase reliability analysis which combines VHDL based simulated fault injection (SFI) and analytical reliability techniques. SFI is applied in the first phase for sub-circuits (blocks), while the overall reliability estimate is obtained using analytical computations. Furthermore, we investigate the errors introduced by the analytical estimate of the overall reliability.

Symulowanie obwodów kwantowych o dużych rozmiarach jest niezwykle trudne. Dlatego też niemożliwe jest przeprowadzenie analizy niezawodnościowej złożonych układów kwantowych. W artykule proponujemy przeprowadzać analizy tego typu poprzez połączenie symulowanego wstrzykiwania błędów w VHDL z metodami analitycznymi analizy niezawodnościowej. W pierwszym etapie dokonuje się symulowanego wstrzykiwania błędów dla podobwodów tworzących bloki, a ogólne oszacowanie niezawodności dokonywane jest poprzez obliczenia analityczne. Następnie szacowane są błędy wprowadzone poprzez szacowanie analityczne do całkowitego oszacowania niezawodności.

FPGA implementations of low precision floating point multiply-accumulate

80%

Amaricai A. , Boncalo O. , Sicoe O.

International Journal of Microelectronics and Computer Science

2013

tom Vol. 4, nr 4

159--163

Floating point (FP) multiply-accumulate (MAC) represents one of the most important operations in a wide range of applications, such as DSP, multimedia or graphic processing. This paper presents a FP MAC half precision (16-bit) FPGA implementation. The main contribution of this work is represented by the utilization of modern FPGA DSP block for performing both mantissa multiplication and mantissa accumulation. In order to use the DSP block for these operations, the alignment right shifts are performed before the multiply-add stage: a right shift on one of the multiplicand, and, a left shift for the other. This results in efficient DSP usage; thus both cost savings and higher performance (high working frequencies and low latencies) are targeted for MAC operations.