Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Znaleziono wyników: 6

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Przedstawiono opis oraz wyniki badań mających na celu wyznaczenie częstotliwości fali światła emitowanej przez diodę laserową. Polegały one na równoczesnym pomiarze tego samego przemieszczenia przy pomocy dwóch interferometrów, jednego z diodą laserową i drugiego - referencyjnego ze
stabilizowanym laserem He-Ne. Celem redukcji losowych składników błędu wyznaczenia długości fali w trakcie analizy wyników badań zastosowano statystyczną metodę regresji liniowej. Względna niedokładność pomiaru długości fali światła wynika z niedokładności pomiaru współczynnika załamania powietrza i wynosi ok. 1x10 do -6 .
Mniej
Więcej
EN
The method of laser diode wavelength determination for metrological application is presented. The measurement idea is based on simultaneous measurement of the same displacements by two interferometers; the first with tested laser diode and the second one with a stabilized He-Ne laser acting
as a wavelength reference for comparison. For the purpose of significant reduction of random errors of measurement the statistical regression analysis method has been applied. The obtained relative inaccuracy of the presented method comes from the inaccuracy of the air refractive index determination and is equal to about 1x10 do -6 .
Mniej
Więcej
|
2007
|
tom nr 9 supl.
88-92
PL
W artykule przedstawiono metodą pomiaru długości fali diody laserowej. Ideą pomiaru jest jednoczesne wyznaczenie bezwzględnych wartości zmian faz prążków interferencyjnych wiązki światła lasera badanego i wiązki światła lasera wzorcowego przy określonej zmianie różnicy dróg optycznych w
układzie interferometru Michelsona. Zmiana faz rozpoczyna się od zerowej różnicy dróg optycznych, dla której faza prążków dla obu laserów jest równa zero. Podczas zwiększania różnicy dróg optycznych zmiana rzędów interferencji jest określana za pomocą zbudowanego do tego celu licznika, którego budowa została szeroko omówiona w artykule. Po otrzymaniu określonych rzędów interferencji, uruchomiona zostaje procedura stabilizacji różnicy dróg optycznych. Stabilizację uzyskano poprzez utrzymywanie stałej wartości fazy prążków lasera wzorcowego. W tak stabilizowanym interferometrze dokonuje się pomiaru fazy prążków lasera badanego. We wstępnych badaniach osiągnięto względną niedokładność pomiaru długości fali diody laserowej na poziomie 3ź10-6.
Mniej
Więcej
EN
The method of laser diode wavelength determination for metrological application is presented. The measurement idea is based on absolute phase change measurement in the Michelson interferometer having optical path difference stabilization. Laser diode beam and He-Ne laser beam are used
simultaneously as a source of light in the same Michelson interferometer. Interferometer reflectors positions referring to the zero optical path difference are located. Next optical path difference is increased and interference order of fringes of both lasers lights are evaluated by counting fringe method. Increase of the optical path difference is stopped when fringe order of He-Ne laser is equal about to 10000. At that point the optical path difference is stabilized using He-Ne laser light. Relation of the fringes phases values of both lasers appoints wavelength.
Mniej
Więcej
PL
W referacie przedstawione został system stabilizacji temperatury przeznaczony do zastosowania w pomiarach interferencyjnych długości (przemieszczenia). W tym celu zbudowano komorę termoizolacyjną wyposażoną w moduł Peltiera z układem sterowania. Założono, że układ powinien zapewnił, przez co
najmniej 8 godzin, stabilizację termiczną na poziomie nie gorszym niż ±0,05° C. Opisano dwa rozwiązania i wyniki badań stabilności temperatury w obu układach.
Mniej
Więcej
EN
In this paper a system of active stabilization of sealed chamber is presented. Electronically controlled Peltier module is applied. The system is predestined for the interferometer to minimize the effect of refractive index variations and thermal expansion correction. Uncertainty of
corrections is a potentially large source of error. Performing the length measure at 20±0,5° Celsius degree and long term stability 0,05 Celsius degreecould significant reduced influences of sources. Two solutions are presented and results of temperature stabilization testing.
Mniej
Więcej
PL
Idea pomiaru polega na porównywaniu wartości zmian faz prążków interferencyjnych lasera wzorcowego i diody laserowej uzyskanych jednocześnie w tym samym układzie interferometru Michelsona przy zmienianej różnicy dróg geometrycznych. Każdorazowa zmiana różnicy dróg geometrycznych jest równa
długości fali lasera wzorcowego. Po wprowadzeniu zmiany różnica dróg optycznych jest stabilizowana na podstawie rozkładu fazy prążków interferencyjnych lasera wzorcowego. Długość badanej fali diody laserowej jest wyznaczana na podstawie stosunku zmian fazy lasera wzorcowego i badanego. W celu redukcji wpływu losowych czynników zakłócających pomiar, do analizy wyników wykorzystano model regresji liniowej.
Mniej
Więcej
EN
The measurement idea is based on comparing of phases variations in the same Michelson-type interferometer at change optical path difference. Each change of the optical path difference is equal of the laser diode wavelength. After each change, the optical path difference is stabilized by
observing the laser diode fringe phase. Thus, the ratio observed variations of the phase reference laser and phase of the laser diode fringes is a measure of the laser diode wavelength. In order to minimized influence of random disturbance factors on measurement process, linear regression model is used.
Mniej
Więcej
|
|
tom Vol. 58, nr 1
327-338
PL
W artykule przedstawione zostały metoda pomiarowa i wyniki badań interferencyjnego etalonu, przeznaczonego do stabilizacji częstotliwości fali światła emitowanego przez diodę laserową. Etalon stanowił stabilizowany termicznie klin optyczny. W badaniach jako wzorzec częstotliwości wykorzystano
stabilizowany częstotliwościowo laser He-Ne. W trakcie przeprowadzonych doświadczeń obserwowana była niestabilność fazy prążków powstałych w etalonie przy zmiennej temperaturze otoczenia. Uzyskano względną termiczną zmianę różnicy dróg optycznych etalonu na poziomie 2⋅10⁻⁸/°C zmiany temperatury otoczenia.
Mniej
Więcej
EN
Measuring method and experimental results of the interference etalon designed for the purpose of laser diode frequency stabilization is presented. Thermally stabilized optical wedge acts as the etalon. He-Ne wavelength stabilized laser has been used as the frequency reference. During
experiments instability of the interferometer fringe phase generated by the etalon has been observed when the ambient temperature was changed. The obtained relative thermal change of the optical path difference of the etalon is equal to 2⋅10⁻⁸/°C of the ambient temperature change.
Mniej
Więcej
EN
The effect of the intensive milling in a planetary ball mill on the kinetics of thermal decomposition of lead carbonate PbCO3 has been studied. It has been found, that the ball milling diminishes the heat effect accompanying the early stage of the thermal decomposition of investigated
material. This suggests, that intensive ball milling causes at least partial decomposition of PbCO3 into PbO and CO2. The qualitative observations of the mass loss of the milling products during the DSC experiments support this supposition.
Mniej
Więcej
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last