Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

1 Polimery

1 1999

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Podstawy mikroskopii sił atomowych w badaniach polimerów

100%

Żenkiewicz M. , Plański J.

tom T. 44, nr 7-8

520-532

Przedstawiono ogólny zakres zastosowań i możliwości badawczych mikroskopu sił atomowych (AFM). Omówiono konstrukcję jego podstawowych podzespołów (dźwignia i ostrze pomiarowe, układ pomiaru ugięcia dźwigni, skaner, system sprzężenia zwrotnego, komputerowy generator obrazu). Opisano rodzaje oddziaływań (van der Waalsa, elektrostatyczne, magnetyczne, kapilarne i siły odpychania krótkiego zasięgu) oraz sposoby ich badania za pomocą tego mikroskopu. Dokonano analizy podstawowych i zespolonych systemów pracy AFM, wskazując na ich najistotniejsze zastosowania. Scharakteryzowano ograniczenia badawcze i główne źródła błędów (drgania zewnętrzne, zmiana wymiarów elementów konstrukcyjnych pod wpływem zmian temperatury) w pomiarach za pomocą AFM.

A general scope of applications and research possibilities is presented for the atomic force microscope (AFM). Construction of fundamental subassemblies, viz., lever and measuring edge, lever deflection measuring system, scanner, feedback system, computerized image generator, is described. Interaction types (van der Waals, electrostatic, magnetic, capillary and short-range repulsion forces) are presented and methods of their AFM studies are presented. The major and combined AFM operation systems are described and major applications emphasized. Research limitations and major error sources are indicated (external vibrations, temperature dilatation or shrinkage of construction details).