Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

1

Porównanie temperaturowych własności pojemnościowych dzielników napięcia o różnych konstrukcjach członu wysokonapięciowego

100%

Ciuba M. , Owsiński M.

Prace Instytutu Elektrotechniki

|

2015

|

tom Z. 270

169--179

PL

Pojemnościowe dzielniki napięcia są powszechnym i ważnym elementem wysokonapięciowych systemów probierczo-pomiarowych, zatem istotne jest zbadanie korzyści z zastosowania w nich nowych konstrukcji kondensatorów. W artykule zawarto koncepcję oraz budowę dwóch konstrukcji dzielnika pojemnościowego SN, w których człony dolne obu dzielników złożono z kondensatorów polipropylenowych natomiast w członach górnych rozważono kondensatory ceramiczne lub polipropylenowe. Artykuł opisuje też wyniki porównania własności eksploatacyjnych obu rozwiązań oraz wnioski płynące z analizy ich przekładni w funkcji temperatury.

EN

This article presents results of comparison of two capacitive voltage divider constructions designed and made in the cooperation between the High Voltage and EMC Department of Electrical Faculty of the Warsaw University of Technology and the High-Current Laboratory of the Institute of Power Engineering. The first construction based on strontium ceramic capacitors and the second one on polypropylene foil capacitors. Low-voltage sections of the both tested dividers were made of polypropylene foil capacitors. The dividers were tested at three different temperatures obtained in a simple climate chamber. During linearity tests in ambient and increased temperatures output voltages of the tested dividers were measured and recorded simultaneously with voltage from reference divider. The results allow to determine the linearity of the divider ratio and its dependence on temperature.

2

Cyfrowe archiwum dokumentów historycznych w Muzeum Stutthof

80%

Chyrek A. , Drozdowski K. , Owsiński M.

Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne

|

2003

|

tom nr 2

605--617

PL

Celem artykułu jest przedstawienie procesu tworzenia cyfrowego archiwum dokumentów historycznych w Muzeum Stutthof w ramach Projektu Memorial. Zaprezentowane są dokumenty historyczne zgromadzone w Archiwum Muzeum Stutthof, kryteria selekcji, na podstawie których wyłoniona została testowa grupa dokumentów podlegających cyfrowemu przetwarzaniu, oraz krótko scharakteryzowane zostały wcześniejsze próby stworzenia cyfrowego archiwum jakie były podejmowane w Muzeum Stutthof. Opisane zostały wszystkie etapy procesu tworzenia dokumentu cyfrowego - od zeskanowania dokumentu papierowego, poprzez wszystkie etapy jego przetwarzania i wydobywania informacji do oceny jakości gotowego dokumentu cyfrowego.

EN

The main point of this article is to show the creation process of the Digital Archive for historical documents in Stutthof Museum, within the framework of Memorial Project Historical documents contained in the Museum's Archive are presented, with the criterions that were the basis of selection for the test group of documents for digital processing. Also previous attempts to create the digital archive in Stutthof Museum are briefly described. All stages of digital document creation process are desribed - from scanning of the paper document, through all processes of processing and extracting information, including the quality estimation of a digital document that is created.

3

Badanie rozkładu temperatury w zestyku płaskim

80%

Sul P. , Kolimas Ł. , Owsiński M. , Tymochowicz J.

Wiadomości Elektrotechniczne

|

2015

|

tom R. 83, nr 6

23--26

PL

Przedstawiono wyniki analizy teoretycznej i eksperymentalnej: przepływu ciepła, rozkładu temperatury i gęstości prądu w zestyku toru wielkoprądowego w celu określenia jego optymalnej konstrukcji.

EN

The paper presents results of theoretical and experimental analysis of heat flow, distribution of temperature and current density in contact of high current circuit – in order to determine its optimal construction.

4

Analiza rozkładu pola elektrycznego w termokurczliwej głowicy kablowej z wadą montażu

80%

Ciuba M. , Sul P. , Owsiński M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2016

|

tom Vol. 57, nr 11

62--64

PL

Przedmiotem niniejszego opracowania jest analiza rozkładu pola elektrycznego termokurczliwej głowicy kablowej SN z zaimplementowanymi błędami montażu. Błędy takie powodują powstanie obszarów o dużej niejednorodności pola mogących znacząco skrócić żywotność osprzętu kablowego, czego przyczyną może być, np.: niedokładne okorowanie kabla, nierównomierne obkurczenie czy brak taśmy sterującej.

EN

The paper describes numerical analysis of influence of assembly faults in MV cable termination on the electric field distribution. These faults, like incorrectly stripped cable insulation, irregular shrinking or omitted stress control mastic, could drastically decrease cable equipment life- time.

5

Praktyczne aspekty wytrzymałości zwarciowej urządzeń z półprzewodnikami mocy

80%

Przybysz J. , Owsiński M. , Piątek Z.

Prace Instytutu Elektrotechniki

|

2015

|

tom Z. 270

47--61

PL

W ramach prowadzonych w Instytucie Energetyki w Warszawie badań urządzeń elektroenergetycznych wykonywane są między innymi próby sprawdzania ich wytrzymałości zwarciowej. W niniejszym artykule zebrano doświadczenia uzyskane podczas badań dla elementów półprzewodnikowych dużej mocy. Przedstawiono zachowanie się obiektów wyposażonych w elementy półprzewodnikowe, między innymi podczas łączenia prądów zwarciowych w stanie pracy znamionowej i awaryjnej. Pokazano zalety stosowania takich rozwiązań oraz omówiono zasadność wykonywania badań pozwalających uzyskać charakterystyki dynamiczne wykorzystywanych elementów półprzewodnikowych. Zwrócono również uwagę na zalety wykorzystania na etapie konstruktorskim zależności przejściowej impedancji termicznej struktur półprzewodników.

EN

Short-circuit withstand of electric power system equipment is a part of the tests carried out by Institute of Power Engineering in Warsaw. In this article we have gathered our experience gained during the research of the power semiconductor devices. It shows the behavior of devices equipped with semiconductor components during short-circuit currents flow in case of nominal and emergency operation. The advantages of such solutions and method of obtaining the dynamic characteristics of semiconductor devices were shown as well. Attention was also drawn to the advantages of the use of transient thermal impedance based on semiconductor structures during the designing stage.

6

Narażenia na pole elektromagnetyczne personelu Laboratorium Wielkoprądowego

80%

Owsiński M. , Papliński P. , Sul P. , Śmietanka H.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2016

|

tom R. 92, nr 10

179--182

PL

W artykule omówiono zagadnienia związane z oddziaływaniem pola elektromagnetycznego na personel zatrudniony w Laboratorium Wielkoprądowym. Podano rozmieszczenie stref występujących w sąsiedztwie źródeł zasilania oraz badanych obiektów. Wykazano, że w celu minimalizacji oddziaływania pola elektromagnetycznego na obsługę konieczne jest właściwe przygotowanie urządzeń pomiarowych i probierczych oraz lokalizacja stałych stanowisk pracy.

EN

In this article issues related to electromagnetic field’s influence on personnel of the High Current Laboratory were described. Arrangement of zones occurring near the power supplies and test objects was given. It has been shown that in order to minimize the impact of electromagnetic field on laboratory’s personnel it is required to have a correct configuration of test and measurement accessories and location of work places.