The crucial measurements aspects of X-ray photoelectron spectroscopy, such as chemical state analysis, depth profiling, mapping, and thickness calculation have been presented. The metal alloys, Ti_2O_5, graphene and type-II InAs/GaSb superlattice structures have been examined by using the new Thermo Scientific K-Alpha X-ray Photoelectron Spectrometer.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.