W pracy przedstawiono rozwiązanie zadania optymalizacji struktury wzorców i układów sprawdzeń w obszarze pomiaru parametrów impedancji zespolonych - pojemności, indukcyjności, rezystancji itp. Stworzono teoretyczne podstawy takiej optymalizacji systemu, rozwiązano wszystkie problemy metodologiczne, została zaprojektowana baza techniczna optymalnej struktury wzorców. Pokazano, że stałość optymalnego systemu wzorców może być 5 do 6 razy lepsza niż systemu o klasycznej strukturze wzorców, przy jednoczesnym zwiększeniu elastyczności i niezawodności.
EN
The paper gives the solution of the close to optimal structure of the standards and measurement circuits in the field of the complex impedance parameters - capacitance, inductance, resistance etc. The theoretical base of such optimization has been created and all methodological problems have been solved. Technical base of such optimal structure has been designed. It has been shown that stability of the optimal standards system may be 5 to 6 times better then at classic structure of the standards, furthermore the reliability and flexibility is better as well.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.